Occasion KLA / TENCOR Archer 100 AIM #9261844 à vendre en France

KLA / TENCOR Archer 100 AIM
ID: 9261844
Taille de la plaquette: 12"
Overlay metrology system, 12".
KLA/TENCOR Archer 100 AIM est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs qui permet aux utilisateurs d'augmenter considérablement le niveau d'identification et d'automatisation de la défectuosité. Le système intègre à la fois l'inspection automatisée des plaquettes et le balayage par film argenté tout en offrant les mêmes performances supérieures qui ont été associées à la famille de produits KLA. KLA Archer 100 AIM dispose d'un étage robuste et d'une large portée de déplacement vertical pouvant accueillir jusqu'à 300mm de tailles de substrat. Cela permet aux utilisateurs d'inspecter rapidement une variété de masques sans intervention manuelle. L'unité utilise des algorithmes avancés pour identifier même les plus petits défauts qui sont habituellement manqués par d'autres types d'inspections. Il est également capable de détecter et d'imager des défauts aussi petits que 2mm et aussi profonds que 30um dans les films d'imagerie à motifs. TENCOR ARCHER 100AIM dispose également d'une gamme brevetée d'optiques adaptatives et jusqu'à 9 sources lumineuses, permettant un contrôle et une précision améliorés dans la détection et l'imagerie des défauts. Il offre des réglages réglables d'équilibre blanc, d'intensité et de contraste pour permettre un éclairage efficace de toutes les surfaces cibles. En outre, il comprend un mode de prévisualisation autoscanning qui peut rapidement isoler et identifier les défauts avant qu'ils ne soient imagés. ARCHER 100AIM est également équipé de logiciels améliorés de révision des défauts pour faciliter la visualisation, l'isolement et la quantification des défauts. Il offre à la fois un affichage à l'écran et une fonction « Carte des défauts » qui peut être utilisée pour analyser les défauts à travers plusieurs points d'inspection. Sa capacité de capture d'image à grande vitesse permet également une imagerie plus rapide des défauts et des résultats plus précis que d'autres technologies. KLA ARCHER 100AIM est une solution idéale pour la détection des défauts et l'assurance qualité dans l'industrie des semi-conducteurs. Cette machine d'inspection avancée offre des capacités complètes de détection, d'imagerie et d'examen des défauts, ce qui en fait une option fiable et rentable pour de nombreuses applications.
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