Occasion KLA / TENCOR Archer 100 #9221534 à vendre en France

KLA/TENCOR Archer 100 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour assurer la qualité des semi-conducteurs. Ce système utilise une technologie de métrologie avancée pour détecter les défauts sur les masques et les plaquettes avec une haute précision à une résolution de 0,05 µm sur tout le champ de vision, à une vitesse allant jusqu'à 24 champs linéaires de vue (LFOV) par seconde. L'unité utilise une combinaison unique de deux technologies pour la visualisation et l'analyse de la surface d'une plaquette : l'imagerie hyperspectrale brevetée et l'imagerie par diffraction spectrale. L'imagerie par diffraction spectrale permet de détecter des défauts cristallins à une résolution de 0,05 µm, car elle exploite des différences de motifs de diffraction électronique absorbés sélectivement par des structures cristallines différentes. L'imagerie hyperspectrale, par contre, utilise la lumière visible pour détecter et caractériser les défauts. La combinaison des techniques d'imagerie a pour effet d'accroître l'efficacité de la reconnaissance des défauts, d'assurer la précision et la répétabilité de la caractérisation des défauts. Le design de KLA Archer 100 est optimisé pour une efficacité et une flexibilité maximales, avec des fonctionnalités avancées comme une station d'éclairage LED à haut contraste et un logiciel intuitif. La station d'éclairage à LED maximise l'uniformité de l'éclairage sur tout le champ de vision du microscope, tout en offrant un plus grand contraste des caractéristiques qui ne sont pas visibles dans les microscopes traditionnels. De plus, la plate-forme logicielle intuitive KLA rend la machine très conviviale, capable d'être adaptée à différentes applications, y compris la cartographie des arêtes de plaquettes, l'assignation des défauts, l'analyse du nombre de particules et l'analyse Bokeh. L'outil dispose également d'une large gamme d'accessoires et d'options disponibles, élargissant encore sa gamme d'utilisation. Ces options comprennent une gamme complète d'objectifs à haute résolution et de solutions d'éclairage, une vaste gamme de filtres, un marqueur de référence en ligne et un outil d'alignement automatisé. Dans l'ensemble, TENCOR Archer 100 est un excellent outil pour l'inspection efficace des masques et des plaquettes, offrant une grande vitesse et précision pour les laboratoires de recherche et les lignes de production. Sa combinaison de technologies avancées d'imagerie et d'analyse, ainsi que les caractéristiques de conception innovantes, en font un choix exceptionnel pour l'assurance qualité des plaquettes semi-conductrices.