Occasion KLA / TENCOR Archer 300 #9287998 à vendre en France

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ID: 9287998
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2010
Overlay measurement system, 12" (3) FOUP (3) Load ports frontend GEM / SECS and HSMS E84 Enabled for OHT and AGV / RGV (3) PIO Devices for OHT E87 (Based on E39) E40 / E94 / E90 CMP Measurement option (3) Advantag Radio Frequency (RF) Carrier ID readers Signal tower Manual included Does not include Hard Disk Drive (HDD) S2 and CE Marked 2010 vintage.
KLA/TENCOR Archer 300 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour fournir une analyse automatisée de rendement et de performance supérieure. KLA Archer 300 utilise des algorithmes avancés de reconnaissance d'image pour détecter, analyser et classer les défauts des motifs de masque et de plaquette utilisés dans la fabrication de semi-conducteurs. Le système est capable de détecter à la fois des anomalies topographiques et paramétriques sur plus de 13 millions de sites par heure. Ces sites sont scannés afin de détecter et de corriger avec précision les écarts entre les motifs de masque et de plaquette. Il peut également effectuer une analyse avancée de divers types de défauts, tels que des pannes de ligne étroite ou de pont. TENCOR Archer 300 est conçu pour dépasser les normes les plus élevées de précision et de performance. En tirant parti de la technologie d'imagerie la plus récente, l'unité est capable de détecter et d'analyser les défauts jusqu'au niveau micron. Ses algorithmes avancés de reconnaissance de motifs sont en mesure de reconnaître les plus petits écarts par rapport au modèle idéal, ce qui se traduit par un délai plus rapide pour les résultats et des taux de rendement plus élevés. De plus, le logiciel intuitif KLA permet une personnalisation transparente des paramètres de test et de la présentation des résultats. Grâce à une interface graphique conviviale, les utilisateurs peuvent rapidement définir les paramètres de leur test et créer des rapports personnalisables. Cela permet aux utilisateurs d'analyser et de signaler les défauts et les stratifications plus rapidement que jamais. L'Archer 300 est particulièrement utile pour les nœuds technologiques de nouvelle génération. Il est capable de surveiller et d'analyser les modèles de plaquettes les plus complexes et les plus denses, ce qui permet de détecter avec précision les défauts mineurs liés aux conceptions multi-motifs. La machine est également capable de surveiller les effets de la variation du procédé et son impact sur les performances des masques et des plaquettes dans le temps. KLA/TENCOR Archer 300 est un outil puissant et fiable pour surveiller et analyser les défauts des masques et des plaquettes lors de la fabrication des semi-conducteurs. Il offre une précision et un contrôle inégalés, permettant une analyse plus précise avec des temps d'exécution plus rapides. En utilisant les dernières technologies d'imagerie et de reconnaissance de motifs, KLA Archer 300 aide les utilisateurs à maintenir un taux de rendement plus élevé tout en réduisant le temps et le coût associés aux tests et à l'analyse.
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