Occasion KLA / TENCOR Archer AIM Plus #9023783 à vendre en France

KLA/TENCOR Archer AIM Plus est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes utilisé dans le processus de fabrication des semi-conducteurs. Le système est capable d'identifier les défauts de fabrication de masques ou de plaquettes de circuits intégrés, y compris ceux liés à l'impression lithographique, à la métrologie et à la planarisation. C'est la seule unité de ce type capable de détecter automatiquement et de mesurer avec précision les nanoparticules et autres défauts non lithographiques. KLA Archer AIM Plus est une unité automatisée et intégrée composée de plusieurs sous-systèmes. Il s'agit notamment d'une machine d'inspection optique automatisée (IAO) pour identifier les défauts lithographiques et non lithographiques, d'un microscope à haute résolution pour mesurer les petits défauts et d'un outil de métrologie pour mesurer les paramètres tels que les écarts de longueur de ligne. De plus, l'actif comprend une trousse d'analyse et de visualisation de données avancées pour analyser les images obtenues par le modèle d'inspection afin d'identifier, d'évaluer et de prévenir les problèmes de limitation des rendements. L'AIM Plus est conçu pour fournir des contrôles de haute précision et non destructifs qui permettent la détection et la mesure rapides de défauts aussi petits que 3nm, améliorant ainsi le rendement des dispositifs semi-conducteurs. De plus, l'équipement est capable de détecter des particules, de l'homogénéité et d'autres caractéristiques non lithographiques qui pourraient autrement ne pas être détectées. Les capacités de métrologie avancées de l'AIM Plus fournissent un contrôle précis sur les processus critiques de photolithographie nanoélectronique, tels que le marquage et le placement des bords lithographiques. L'AIM Plus est extrêmement rapide et fiable, ce qui lui permet d'évaluer une plaquette complète de 8 pouces en une seule passe, en aussi peu que 25 secondes. En outre, l'interface conviviale du système garantit une unité facile à utiliser, ce qui réduit le temps et le coût de fonctionnement et de maintenance. Avec ses puissantes capacités de calcul, l'AIM Plus est capable de transférer de grandes quantités de données rapidement et en toute sécurité, fournissant des informations précieuses aux optimiseurs de production en temps réel. Globalement, TENCOR Archer AIM Plus est une solution avancée et puissante pour l'inspection des masques et des plaquettes, permettant un meilleur rendement et un faible coût de production dans la fabrication des semi-conducteurs. Il est très polyvalent avec des fonctionnalités et des capacités avancées, ce qui en fait une solution fiable pour le contrôle de la qualité et la surveillance des processus.