Occasion KLA / TENCOR Archer AIM+ #293821668 à vendre en France

KLA/TENCOR Archer AIM + est un équipement d'inspection de masques et plaquettes pour la fabrication de semi-conducteurs. C'est un outil de haute performance pour le contrôle de processus à haut rendement avec résolution et précision qui est inégalé dans l'industrie. L'AIM + offre une combinaison unique de résolution, de champ de vision et de précision qui a considérablement augmenté le potentiel de débit et la qualité de l'analyse des données. Grâce à l'utilisation d'algorithmes avancés et d'une grande variété d'outils automatisés, ce système fournit un masque complet et une capacité d'inspection et d'analyse des plaquettes. L'unité est conçue pour inspecter les réticules de masquage, la sous-lithographie des plaquettes, les revêtements multicouches et latéraux, le masque de soudure et le bossage. Il dispose d'un contrôleur de caméra intégré, d'une machine à focaliser automatisée et d'un processeur d'image pour fournir des capacités d'analyse d'image inégalées et fournit même une analyse 3D des structures. L'AIM + utilise plusieurs algorithmes avancés pour analyser les couches imprimées et les défauts, y compris la polarité des couleurs, la structure, l'érosion et le contrôle de l'imagerie hybride. Il offre également plusieurs algorithmes propriétaires de reconnaissance de motifs pour des capacités de détection ajoutées et dispose à la fois d'une gamme dynamique élevée et de l'imagerie en champ lumineux. L'outil dispose de capacités à la fois manuelles et automatisées, y compris la capacité de sélectionner les fonctions cibles, la position de mise au point et l'orientation de la caméra d'inspection pour fournir des résultats optimaux. Il offre également une interface graphique conviviale et des opérations simples avec plusieurs langages, une programmation simplifiée et un calibrage minimal. L'actif est hautement évolutif et peut être configuré pour plusieurs dispositifs à puce ainsi que pour différents types d'applications d'analyse d'image, comme la métrologie et l'imagerie 3D. Il peut également être facilement intégré dans les procédés de fabrication de semi-conducteurs existants. Pour faciliter l'analyse et le reporting des données, KLA Archer AIM + est équipé d'un puissant sous-système de stockage de données, d'une capacité de repérage rapide et d'une excellente précision de positionnement. De plus, le modèle utilise des capacités de détection de marques fiduciaires de haute précision pour assurer un alignement supérieur et une corrélation des défauts. TENCOR Archer AIM + est un équipement avancé et robuste d'inspection des masques et plaquettes avec la puissance et la précision requises pour la fabrication des semi-conducteurs. Il offre la résolution et le champ de vision nécessaires, ainsi que des capacités automatisées et manuelles pour fournir une analyse d'image supérieure et une inspection 3D des structures. Avec de nombreux algorithmes propriétaires et un contrôleur de caméra intégré, des capacités de stockage de données et de backtrace rapide, ce système fournit une solution complète et polyvalente pour masquer et inspecter les plaquettes.