Occasion KLA / TENCOR Archer AIM #9180730 à vendre en France

KLA/TENCOR Archer AIM est un équipement « masque and wafer inspection » qui est un outil utilisé pour détecter et identifier les défauts aux stades de fabrication des masques et des plaquettes de fabrication de semi-conducteurs. Le système KLA Archer AIM permet aux fabricants de puces de circuit intégré d'augmenter la détection des défauts et d'identifier les défauts de motif plus rapidement et plus précisément que jamais. Il intègre une nouvelle technologie d'inspection - le machine learning - pour identifier avec précision le large éventail de défauts de masque et de plaquettes. L'unité TENCOR Archer AIM utilise une combinaison d'optique, de capture d'image et de logiciel intégré pour détecter et identifier les défauts sur les motifs des plaquettes et des masques. Machine Learning est intégré à la machine pour permettre une détection plus rapide et plus précise des défauts. Il utilise une technique avancée d'imagerie et d'acquisition de données appelée « imagerie de largeur », qui utilise un objectif grand angle et des expositions multiples pour créer une image de masquage ou de plaquette unique. Ceci permet à l'outil de comparer un motif de masque ou de plaquette à sa conception visuelle correspondante afin de détecter et de classer les défauts. Archer AIM utilise également une variété de techniques avancées de traitement d'image afin de détecter et de classer les défauts. L'actif utilise la technologie « Superpixel » pour séparer plusieurs défauts situés à proximité les uns des autres. Il utilise également la « détection de bord » pour identifier de petites différences entre les modèles qui peuvent indiquer des modèles défectueux en raison d'un mauvais alignement ou d'une contamination. Le modèle est encore amélioré par la fonction de « réglage de sensibilité », qui permet aux utilisateurs d'ajuster le seuil de détection des défauts de l'équipement afin de maximiser les taux de détection des défauts. Les composants du système KLA/TENCOR Archer AIM sont intégrés à travers une unité unifiée, qui comprend un logiciel d'application, un stockage réseau, une station d'acquisition/contrôle de données et un contrôleur de traitement d'images. Le contrôleur de traitement d'images est chargé de capturer, d'analyser et de stocker les images défectueuses, tandis que la station d'acquisition/contrôle de données est utilisée pour contrôler les paramètres de la machine tels que les positions des masques et des plaquettes, les expositions et la durée des expositions. L'outil KLA Archer AIM peut être utilisé pour une variété de modèles de masques et de types de plaquettes. Il dispose d'un taux de scan haute performance et est capable de scanner régulièrement de grandes zones d'un seul masque ou motif de plaquette en une courte quantité de temps. L'actif est également capable de capturer des milliers d'images par heure, et de générer rapidement des rapports ou des images de défaut. Le modèle TENCOR Archer AIM fournit des résultats d'inspection cohérents et fiables. Avec sa grande vitesse et ses capacités supérieures de détection des défauts, Archer AIM est un outil puissant pour les fabricants afin de garantir l'intégrité de leurs produits tout en réduisant leurs coûts.