Occasion KLA / TENCOR Archer AIM+ #9237846 à vendre en France

KLA/TENCOR Archer AIM + est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour simplifier le processus d'identification, d'examen et de validation des données de défauts dans l'industrie des semi-conducteurs. Le système est une solution complète qui utilise des logiciels et du matériel puissants de l'UCK. Il utilise une combinaison de technologies d'inspection, y compris l'imagerie de wafer haute résolution, la reconnaissance automatisée des motifs et l'analyse 3D des défauts pour fournir des résultats rapides, précis et reproductibles. L'unité est composée d'une unité principale et d'un microscope. L'unité principale abrite le scanner laser, le gestionnaire de plaquettes, le projecteur optique, le processeur de traitement d'image et la machine de révision des défauts. Le microscope, qui est relié à l'unité principale, est un outil d'imagerie numérique haute résolution qui fournit des images détaillées des caractéristiques sur la surface de la plaquette à divers agrandissements. KLA Archer AIM + utilise une combinaison de logiciels de révision des défauts et de périphériques matériels pour détecter et analyser les défauts. Les défauts sont acquis et traités en temps réel, en utilisant l'imagerie haute résolution et les technologies d'analyse automatisée des défauts de pointe. Grâce à une combinaison d'algorithmes de reconnaissance de motifs et d'analyse 3D, l'actif identifie, compte et classe avec précision les types de défauts sur la plaquette. Le modèle comprend une interface utilisateur intuitive pour examiner et valider les défauts, ainsi que pour personnaliser le filtre de défaut et configurer la révision automatique des défauts. L'équipement comprend également une série d'outils prédéfinis d'analyse du rendement, des défauts et de la fiabilité pour analyser les résultats pour le rendement, les niveaux de défauts et d'autres paramètres clés. Ces outils fournissent des informations précieuses sur le processus de fabrication, pour aider à améliorer la qualité et le rendement des produits au fil du temps. Le système TENCOR Archer AIM + est un outil puissant pour améliorer la qualité globale des produits dans l'industrie des semi-conducteurs. Il fournit des résultats rapides, précis et reproductibles, et offre une série d'outils pour faciliter l'examen efficace des défauts et l'analyse du rendement. L'unité est une solution hautement automatisée et fiable pour l'inspection des masques et des plaquettes, et peut être facilement intégrée dans les processus et systèmes SEMIConductor existants.