Occasion KLA / TENCOR Archer AIM #9293250 à vendre en France

KLA / TENCOR Archer AIM
ID: 9293250
Overlay measurement system.
KLA/TENCOR Archer AIM est un équipement automatisé de masque d'encre et d'inspection des plaquettes qui fournit des performances de haut niveau pour la gestion du rendement, la correction des défauts et la qualification des appareils. Le système dispose d'une tête d'inspection avec un réseau de détecteurs de 4k pixels, qui fournit une inspection haute résolution pour détecter les petits défauts. L'unité optique est associée à de puissants algorithmes de traitement d'image et de détection de défauts pour fournir la plus grande précision de détection de défauts. La machine comprend un processus d'auto-optimisation unique qui permet aux utilisateurs de personnaliser l'outil pour leurs applications spécifiques et d'améliorer la sensibilité de détection. En outre, l'actif prend en charge l'examen automatisé et manuel des défauts, fournissant une solution complète et complète. Le modèle est également équipé d'un poste de contrôle des défauts, permettant aux utilisateurs d'identifier et de classer rapidement et facilement les défauts. Le progiciel avancé gratuit fournit un examen virtuel, permettant aux utilisateurs de comparer les données d'origine de l'appareil aux résultats du processus d'inspection. Le logiciel fournit également une bibliothèque de classification des défauts, permettant aux utilisateurs de développer et de stocker des listes de défauts personnalisées adaptées à leur processus spécifique. L'équipement assure une identification rapide et précise des défauts grâce à l'intégration de diverses techniques avancées d'inspection et de détection des défauts. Le système utilise une unité de microscopie électronique à balayage (SEM) avec des capacités de mesure automatisées avancées, permettant d'identifier rapidement et avec précision la taille des défauts et l'emplacement des défauts. Il comprend également une machine CD-SEM qui s'appuie sur la technologie CCD pour les images à haute résolution. L'outil CD-SEM est intégré à un stéréoscope 3D haute résolution pour les applications de classification des défauts. En outre, l'actif peut être intégré à divers systèmes avancés de métrologie pour la classification des défauts. Le modèle comprend un réseau de sécurité à l'échelle de l'équipement, composé de paramètres sécurisés, de mécanismes d'authentification et d'un registre système complet, qui garantit la plus grande protection des exigences de qualité. L'unité permet également aux utilisateurs d'accéder à distance aux outils d'examen et d'analyse, ce qui leur permet de discuter et d'examiner rapidement les questions. Enfin, la machine est conçue pour améliorer l'efficacité du procédé, augmenter le débit et réduire les faux rejets. L'outil fournit aux utilisateurs des résultats d'inspection très sensibles et précis, ainsi que des temps de détection raccourcis. L'actif produit également des résumés détaillés des rapports de défauts directement aux ingénieurs et aux exploitants de processus, ce qui simplifie le processus d'examen. Toutes ces caractéristiques et tous ces avantages font de KLA Archer AIM un modèle idéal d'inspection des masques et plaquettes.
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