Occasion KLA / TENCOR Archer XT #9034312 à vendre en France

Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.

ID: 9034312
Overlay inspection system.
KLA/TENCOR Archer XT est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour une large gamme d'applications de fabrication de semi-conducteurs. Le système dispose de haute vitesse, haute précision, inspection 3D des masques et des plaquettes ; et fournit des outils d'analyse et de caractérisation approfondis, conçus pour les exigences les plus critiques en matière d'inspection des défauts des masques et des plaquettes. KLA Archer XT est basé sur les technologies d'optique, de logiciel et d'imagerie avancées KLA, et fournit un large éventail de fonctions automatisées, telles que la détection des défauts, la classification des défauts et l'analyse d'image. Permettant une détection et une identification plus rapides des défauts, l'unité accélère le processus de détection, de localisation et de caractérisation des défauts sur les plaquettes et les masques, sans sacrifier la précision. TENCOR Archer XT fournit quatre systèmes d'imagerie - champ lumineux, champ lumineux à faible angle, champ sombre et fluorescence - qui aident à supporter un large éventail de types de défauts. Il fournit également des algorithmes avancés et des fonctions de post-traitement, comme le groupement basé sur les motifs, la classification des défauts, et l'analyse avancée, aidant davantage à la classification des défauts. La machine Archer XT est hautement personnalisable et peut être configurée pour répondre à des besoins spécifiques. Pour soutenir davantage ses capacités avancées d'inspection des défauts, l'outil utilise un porte-plaquettes multiformables, fournissant la meilleure capacité d'inspection des défauts de classe. Il dispose également d'un design modulaire permettant l'extensibilité, et facile d'entretien et de mise à niveau. L'actif dispose d'un petit champ de vision (SFOV), qui permet de visualiser et d'inspecter moins de 100nm de règles de conception. La technologie SFOV crée un environnement de précision et de netteté de criblage accrues, permettant d'augmenter les capacités de détection des défauts. KLA/TENCOR Archer XT est conçu pour faciliter l'utilisation, fournissant des outils complets pour le développement, l'analyse et l'évaluation de la gestion du rendement et le contrôle des processus. Le modèle peut être intégré avec les systèmes d'inspection et de gestion des rendements TENCOR, permettant des capacités d'automatisation et d'intégration des données supplémentaires. Avec ses capacités de détection avancées et son interface facile à utiliser, l'équipement KLA Archer XT fournit une solution complète d'inspection des masques et des plaquettes. Le système offre des inspections tridimensionnelles des masques et des plaquettes, une analyse et une caractérisation approfondies des défauts, des capacités SFOV et une collecte et une analyse automatisées des données. Tenant compte des exigences les plus strictes de fabrication de semi-conducteurs, TENCOR Archer XT est le choix idéal pour toute organisation cherchant à maximiser son masque et son rendement de plaquette.
Il n'y a pas encore de critiques