Occasion KLA / TENCOR Candela CS20R #9276235 à vendre en France

ID: 9276235
Taille de la plaquette: 2"-8"
Style Vintage: 2012
Surface measurement system, 2"-8" Chucks included 2012 vintage.
KLA/TENCOR Candela CS20R est un équipement de pointe d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour des applications critiques de métrologie de couches minces et de structures. Alimenté par la technologie NFIB (Nanometer Focused Ion Beam) de signature KLA, il permet de fournir des mesures rapides, répétables et précises dans le régime de sous-10nm. Cela rend le système idéal pour le contrôle de la qualité et l'assurance de la qualité, en particulier pour la mise en valeur des composants semi-conducteurs, optiques et d'affichage. Le CS20R a une conception entièrement automatisée qui le rend efficace et convivial, même pour ceux qui sont nouveaux dans la métrologie. Il dispose d'une grande chambre d'échantillonnage double-large qui peut adapter des dispositifs jusqu'à 12 "de diamètre et peut contrôler jusqu'à 2 étages simultanément pour une inspection plus rapide. Il a un champ de vision (FOV) jusqu'à 80mm qui est idéal pour une inspection complète à 360 °, plus une capacité brevetée de balayage de ligne qui permet jusqu'à 1000x grossissement et de couture dynamique d'image plein champ. KLA CANDELA CS 20R est équipé d'un logiciel breveté d'auto-inspection des défauts (ADI) qui permet à l'unité de détecter les défauts provenant de diverses sources, y compris les défauts tels que les taches, les trous d'épingle, les glissements et les anomalies. Le logiciel a également des capacités d'échantillonnage automatisé, de sorte que la machine peut échantillonner et inspecter l'ensemble de l'appareil sans aucune intervention manuelle. Du côté des rapports, TENCOR CANDELA CS-20 R peut générer automatiquement des rapports détaillés qui contiennent tous les points de données critiques, y compris les résultats de mesure, le type d'appareil, la taille et l'état. Cela aide à identifier rapidement les défauts sans avoir besoin de revoir les mêmes données plusieurs fois. L'outil dispose également de capacités intégrées d'assurance de la qualité, de sorte que l'acceptation des échantillons est rapide et efficace. En résumé, KLA Candela CS20R est un outil complet d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour des applications de métrologie de haute précision. Il est doté d'un design robuste, d'une interface utilisateur intuitive et d'une technologie NFIB puissante qui permet des mesures rapides, répétables et précises jusqu'au niveau du nanomètre. Idéal pour les applications semi-conductrices, optiques et d'affichage, il est équipé d'un logiciel avancé de détection des défauts et de fonctionnalités d'assurance qualité.
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