Occasion KLA / TENCOR Candela CS20V #9412205 à vendre en France

KLA/TENCOR Candela CS20V est un masque de haute précision et un équipement d'inspection des plaquettes conçu pour le traitement des semi-conducteurs. Le système fournit des capacités de métrologie optique avancées et utilise des capteurs d'imagerie de haute précision pour identifier les défauts et les imperfections des motifs sur les masques et les plaquettes. L'unité fournit également une suite logicielle complète pour l'analyse des données et la caractérisation des défauts. La machine utilise deux techniques d'imagerie pour détecter les défauts dans les masques et les plaquettes, y compris l'imagerie chromatique et l'imagerie grand angle. L'imagerie chromatique est utilisée pour détecter les différences de couleur entre les défauts et la zone environnante, tandis que l'imagerie grand angle peut détecter des défauts de diverses tailles, formes et profondeurs. L'outil comprend également une mécanique d'imagerie hors axe qui utilise une source lumineuse incohérente pour identifier plus précisément des défauts petits et difficiles à détecter. KLA CANDELA CS 20 V dispose également de capacités de métrologie optique de pointe qui permettent à l'utilisateur de mesurer les caractéristiques critiques, y compris les caractéristiques structurelles critiques et la taille des trous de contact sur les plaquettes. L'atout combine des algorithmes complexes avec des optiques avancées, qui fournissent des mesures ultra-précises de sujets tels que la profondeur, la largeur et la hauteur au niveau microscopique. Le modèle comprend un logiciel propriétaire de traitement d'image et de signal qui automatise la détection des défauts, permettant à l'utilisateur de retracer les motifs de défaut dans le signal et d'identifier les défauts de minute. Il comprend également un logiciel automatisé de caractérisation qui simplifie encore le processus de caractérisation et d'inspection des défauts. Le logiciel est facile à utiliser et s'intègre parfaitement avec d'autres produits KLA. TENCOR CANDELA CS 20-V est un équipement d'inspection avancé doté de capacités de métrologie optique avancées, de capteurs d'imagerie de haute précision et d'une puissante suite logicielle pour l'analyse des données et la caractérisation des défauts. Il est adapté au traitement des semi-conducteurs, ainsi qu'à d'autres applications d'inspection, et fournit une solution fiable, précise et conviviale pour détecter les défauts dans les masques et les plaquettes.