Occasion KLA / TENCOR DFIMS Handler for SP1 #9262063 à vendre en France

KLA/TENCOR DFIMS Handler for SP1 est un équipement d'inspection de masque et de plaquette de pointe qui a été conçu pour répondre aux exigences les plus exigeantes pour les matériaux et procédés de semi-conducteur les plus avancés d'aujourd'hui. Le système est composé de nombreuses technologies conçues pour atteindre des niveaux de performance maximums en termes de détection et de prévention des défauts. Il permet l'inspection automatisée des masques et des plaquettes, la détection des particules et la confirmation des défauts. Au cœur, KLA DFIMS Handler for SP1 utilise un ensemble de technologies puissantes de traitement d'image et de microscopie pour inspecter les masques et les plaquettes pour détecter les défauts de surface. Il utilise une unité optique avancée qui est améliorée avec un laser ultraviolet profond pour effectuer l'imagerie haute résolution, de grande surface, l'appariement des motifs, l'analyse des défauts, et la documentation statistique. En utilisant ces méthodes, la machine peut identifier les défauts très rapidement et avec précision avec sa capacité de localisation des défauts très précise. L'outil utilise également une fonction d'auto-focus unique qui garantit que les images d'inspection sont prises au plan focal optimal pour une performance maximale des capacités d'inspection de l'actif. Cela garantit la plus grande précision et le temps d'inspection le plus court. Une fonction Auto-Threshold spécialisée est également incluse qui permet d'identifier avec précision les particules et autres petits défauts sur la surface du masque ou de la plaquette. En plus de ses capacités de traitement d'image, TENCOR DFIMS Handler pour SP1 est également équipé d'un modèle avancé de classification des défauts. Cet équipement est utilisé pour classifier et hiérarchiser en temps réel les défauts détectés en fonction de leur niveau de risque. Cela permet au système de déterminer la résolution et la réponse les plus appropriées pour chaque défaut détecté. Il simplifie également grandement le processus d'inspection des masques et des plaquettes en identifiant automatiquement les résolutions les plus appropriées aux défauts détectés sans aucune intervention de l'utilisateur. Dans l'ensemble, DFIMS Handler pour SP1 offre une solution puissante et très précise pour inspecter les masques et les plaquettes pour détecter les défauts de surface. Il combine des technologies avancées de traitement d'image et des capacités spécialisées de classification des défauts pour fournir le maximum de précision, de fiabilité et de vitesse. En tant que tel, il est un excellent choix pour les fabricants de dispositifs semi-conducteurs à la recherche d'une solution fiable, économique et précise pour l'inspection des masques et des plaquettes.