Occasion KLA / TENCOR eDR-5200+ #9410395 à vendre en France

ID: 9410395
Defect review Scanning Electron Microscope (SEM).
KLA/TENCOR eDR-5200 + est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour l'industrie des semi-conducteurs de pointe. Ce système a le débit et la capacité les plus élevés de sa classe. Il est équipé d'une caméra CCD de haute qualité qui peut scanner jusqu'à 612 nm, ce qui donne une qualité d'image supérieure. Il comprend une unité optique haute vitesse et haute résolution qui minimise le temps de traitement. De plus, le KLA eDR-5200 + possède une grande surface de comptage et des capacités de haute résolution. Cela permet un traitement et une inspection plus rapides des grandes plaquettes. TENCOR eDR-5200 + dispose également d'un logiciel d'analyse d'image sophistiqué qui permet la détection automatisée des défauts de masque et de plaquette. Cette machine utilise des algorithmes avancés et des capacités précises de reconnaissance de motifs pour identifier correctement les défauts qui peuvent être présents dans le produit. De plus, il est capable de signaler l'emplacement précis, la taille et la forme de tout défaut détecté. Tout cela permet une inspection plus rapide et plus précise du produit, conduisant à une meilleure qualité et à un coût réduit. EDR-5200 + est conçu pour des environnements industriels extrêmes et peut fonctionner sur n'importe quel type de chaîne de production. Il est extrêmement durable et fiable, avec une longue espérance de vie. Son architecture avancée fournit également un chemin de mise à niveau facile, vous permettant de mettre à niveau vers la dernière technologie au besoin. Enfin, l'outil est entièrement évolutif et peut s'adapter aux besoins de n'importe quelle ligne de production. Cela permet aux utilisateurs de surveiller rapidement et efficacement les performances de la chaîne de production et d'effectuer les ajustements nécessaires en temps réel. Globalement, le KLA/TENCOR eDR-5200 + offre une qualité d'image et une automatisation supérieures, permettant une inspection plus rapide et plus précise des masques et des plaquettes avec des coûts réduits. Ses fonctionnalités et capacités avancées fournissent à l'industrie des semi-conducteurs le moyen le plus efficace et le plus économique d'assurer la qualité tout en optimisant les performances des lignes de production.
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