Occasion KLA / TENCOR eDR-5210 #293755073 à vendre en France
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ID: 293755073
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2010
Scanning Electron Microscope (SEM), 12"
2010 vintage.
KLA/TENCOR eDR-5210 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes qui utilise la technologie d'éclairage cohérent 3D pour la détection de défauts de haute précision. Ce système est conçu pour être utilisé dans un environnement de fabrication de semi-conducteurs et fournit une large gamme de capacités d'inspection. Il convient à la fois aux appareils de pointe et aux anciens appareils, et peut être utilisé à des fins de production et de recherche. L'unité est composée d'une caméra CCD couleur modelée de 13 mégapixels qui est équipée d'un objectif grand format. Ceci capture les images du dispositif localisé et les transmet à l'unité de commande principale. La machine dispose d'une interface graphique conviviale et d'options de configuration intuitives qui permettent à un opérateur d'ajuster rapidement les paramètres d'inspection et de mesure des défauts. Il offre également de puissantes fonctionnalités automatisées pour le calibrage et la mesure des images, ainsi que la classification des défauts. KLA eDR-5210 est équipé d'un outil d'éclairage 3D cohérent intégré. Cette fonctionnalité utilise la technologie brevetée de balayage « MODLESS » qui est conçu pour améliorer considérablement les capacités de détection et d'analyse des défauts. De plus, l'actif est capable de capturer simultanément des images de phase et d'obscurité tout en maintenant un niveau d'éclairage constant. Le modèle est également équipé d'un ensemble complet d'algorithmes de classification des défauts pour assurer la précision. Cela comprend les algorithmes de classification des défauts de surface, les techniques d'amélioration du contraste d'imagerie, le suivi et l'évaluation automatisés des caractéristiques, les stratégies d'amélioration de la luminosité et l'analyse des caractéristiques de sous-résolution. De plus, chaque image de défaut est dotée d'une catégorie de défaut et d'une gravité de défaut. Enfin, l'équipement TENCOR EDR 5210 offre une flexibilité et une évolutivité excellentes. Il peut être facilement configuré pour répondre à différents types de tâches et peut être adapté aux besoins des solutions personnalisées. En outre, il peut être intégré à d'autres systèmes logiciels pour la gestion des données, l'établissement de rapports et l'analyse des défauts. Dans l'ensemble, TENCOR eDR-5210 est un système avancé et très précis d'inspection des masques et des plaquettes. Il utilise des technologies de balayage MODLESS brevetées et cohérentes en 3D, offrant une précision et une fiabilité supérieures en matière de détection des défauts. De plus, l'unité fournit une machine complète d'analyse de classification des défauts et une excellente flexibilité et évolutivité. Cela en fait un excellent choix pour la production et la recherche dans l'industrie des semi-conducteurs.
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