Occasion KLA / TENCOR eDR-5210S #9269303 à vendre en France

KLA/TENCOR eDR-5210S est un équipement entièrement automatisé d'inspection des masques et plaquettes conçu pour les applications de métrologie à haut débit. KLA eDR-5210S offre des performances optiques supérieures et une détection automatisée des défauts pour l'inspection des masques et des plaquettes. Le système peut inspecter les motifs jusqu'à 3,5 nanomètres en taille avec des résolutions d'image jusqu'à 20 mégapixels. L'unité dispose d'une machine automatique à lentilles multi-étages qui fournit un grand champ de vision et une ouverture numérique très élevée. Cela permet un haut niveau de précision et de résolution lors de l'inspection des masques et des plaquettes pour détecter les défauts. TENCOR eDR-5210S utilise une 600W source lumineuse LED haute intensité avec une longueur d'onde de lumière réglable de 250nm à 1750nm pour détecter les défauts. L'outil utilise de multiples expositions simultanées et des algorithmes avancés de traitement d'image pour détecter des défauts même à des niveaux de lumière très bas. Le processus d'inspection automatisé comprend le positionnement des masques et des plaquettes, la mesure optique, le traitement des images et l'analyse des données, ce qui réduit le temps d'inspection global. EDR-5210S est conçu pour effectuer des inspections rapides et fiables, même à des niveaux de bruit faibles. Les algorithmes de traitement d'image tels que la reconnaissance des motifs et l'inspection des facteurs Q, combinés aux puissantes capacités d'éclairage, permettent à l'actif de détecter rapidement les défauts des sous-microns et d'autres imperfections sur les masques et les plaquettes. Le modèle dispose également d'une interface graphique conviviale avec une interface intuitive pour une configuration et un fonctionnement faciles. KLA/TENCOR eDR-5210S est un équipement d'inspection polyvalent conçu pour fournir une métrologie à haut débit afin d'assurer des masques et des plaquettes sans défaut. Le système peut détecter des défauts jusqu'à 3,5 nanomètres avec une très haute résolution et précision. Le processus d'inspection automatisé couplé à des algorithmes avancés de traitement d'image et de puissantes capacités d'éclairage permettent une détection rapide et fiable des défauts. L'interface GUI conviviale rend la configuration et le fonctionnement de l'unité facile et simple.