Occasion KLA / TENCOR eS30 #9258336 à vendre en France

KLA/TENCOR eS30 est un système spécialisé d'inspection des masques et des plaquettes, utilisé dans le processus de production des semi-conducteurs. Conçu pour fournir des capacités de déclaration et de contrôle des rendements de pointe dans l'industrie, le système d'inspection eS30mask et wafer est une solution robuste de niveau minifab. KLA eS30 est capable de combiner des systèmes de métrologie optique et électrique, lui permettant de fournir des données précises rapidement et de manière fiable. Cela inclut la technologie avancée d'imagerie qui capture les détails de géométrie de grain fin, ainsi que les capacités avancées de reconnaissance de patter pour identifier les modèles ou les sources de défauts. TENCOR eS30 est capable d'accueillir une variété de substrats et de masques, des masques carrés de 12 pouces jusqu'aux plaquettes carrées de 25 pouces. Il est équipé de la technologie d'alignement automatisé, assurant le placement précis du masque ou de la plaquette pour une production à haut volume avec la plus grande précision possible. En plus de ses capacités de numérisation automatisée, eS30 offre des fonctions de rapport complètes pour la traçabilité ultime. Cela comprend des rapports détaillés sur les défauts, où les défauts détectés sont attribués à une source et signalés jusqu'au niveau de la faute intrinsèque. Ces données de traçabilité sont ensuite utilisées pour suivre les tendances des processus, mesurer les métriques de rendement, et com [sont des métriques de fonderie par rapport aux données planaires. De plus, KLA/TENCOR eS30 permet aux utilisateurs de sélectionner des défauts ou des motifs spécifiques à observer ou à analyser en mode « gestion de données ». En métrologie, l'UCK eS30 peut mesurer les deux types de structures de surface - qu'il s'agisse de structures à grains plats ou à recouvrement. Complétée par des capacités avancées de reconnaissance de motifs, la visualisation et l'analyse précises de l'information de motifs est activée. Cela inclut la détection de tous les types de processus non-idéaux tels que le balisage 3D et la non-uniformité. TENCOR eS30 offre également des capacités d'imagerie et de classification pour l'imagerie des défauts des zones périphériques et des clairières. Combiné, eS30 offre un ensemble complet de fonctionnalités et de capacités pour inspecter et valider les couches de masque et de plaquette. Ce système est le choix idéal pour améliorer la détection et l'analyse, donnant un aperçu total des processus et des performances. Ainsi, la fabrication et l'assemblage se déroulent de manière harmonieuse et efficace avec des rendements maximums, garantissant la qualité et la fiabilité du produit.