Occasion KLA / TENCOR eS32 #9205645 à vendre en France

KLA / TENCOR eS32
ID: 9205645
Taille de la plaquette: 12"
Wafer inspection system, 12" Non functional.
KLA/TENCOR eS32 est un puissant équipement d'inspection des masques et plaquettes qui permet de détecter en temps réel les défauts pour les procédés de fabrication des semi-conducteurs les plus exigeants. Il offre des performances de pointe et peut inspecter jusqu'à 32 masques ou plaquettes complexes simultanément. Le système a une résolution variable jusqu'à 0,26 micron, soit quatre fois plus que l'unité précédente. Ceci lui permet de détecter des tailles de défauts sous-optiques, ce qui est essentiel pour assurer le rendement dans la fabrication moderne de semi-conducteurs de 16 et 20 nanomètres. KLA eS32 utilise un module de mise au point dynamique (DFM), qui ajuste automatiquement la mise au point pour chaque couche d'inspection. Ceci fournit la meilleure clarté d'image en classe et élimine les problèmes causés par l'étalonnage inexact des étapes. La machine intègre également un algorithme propriétaire de Q-Detect, qui lui permet de détecter des défauts complexes qui, sinon, ne seraient pas détectés. Cet algorithme sophistiqué combine trois idéologies de détection dans sa logique, afin de couvrir tous les types de défauts possibles. En outre, TENCOR ES 32 dispose de capacités uniques de capture d'image qui peuvent capturer la plaquette entière en un seul cliché. Ceci augmente le débit et réduit le risque de fuite de défaut. En outre, l'outil est équipé d'un processeur d'image HDR (High-Dynamic Range) qui permet de distinguer facilement les défauts microscopiques et les signatures de caractéristiques pour une meilleure classification des défauts. KLA/TENCOR ES 32 utilise également la technologie KLA iQ pour optimiser les performances d'inspection. Cette technologie utilise des algorithmes de machine-learning pour ajuster automatiquement les opérations d'inspection afin de détecter des défauts difficiles. En conclusion, KLA ES 32 est la solution parfaite pour l'inspection avancée des masques et des plaquettes. Il offre des performances supérieures et offre une large gamme de fonctionnalités qui lui permettent de détecter même les plus petits défauts. C'est un outil idéal pour l'industrie des semi-conducteurs, assurant des rendements optimaux et les meilleurs produits possibles.
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