Occasion KLA / TENCOR eS32 #9387246 à vendre en France

ID: 9387246
Style Vintage: 2006
Electron-Beam Defect Inspection (EBI) system Scan boards missing 2006 vintage.
KLA/TENCOR eS32 est un équipement sophistiqué et technologiquement avancé d'inspection des masques et des plaquettes (MWI) qui utilise un système d'inspection haute résolution et haute vitesse pour maximiser le débit unitaire et le temps passé par échantillon. Cette machine dispose d'une capacité automatique d'imagerie moteur linéaire à cinq axes qui permet le chargement et l'optimisation automatisés des échantillons, en veillant à ce que tous les échantillons soient inspectés de manière efficace et précise. Le contrôle automatisé des échantillons permet de s'assurer que les échantillons ne peuvent pas être mal chargés ou mal gérés, ce qui élimine les erreurs humaines et donne lieu à des procédures d'inspection de meilleure qualité. KLA eS32 dispose de capacités de traitement avancées, y compris une analyse en temps réel puissante et l'identification algorithmique spécialisée des défauts perçus, qui peuvent être utilisés pour détecter les défauts de surface et de sous-surface dans les dispositifs semi-conducteurs et leurs caractéristiques. L'outil MWI est également équipé d'un matériel d'éclairage plein champ qui est conçu pour révéler des informations plus détaillées sur les échantillons qui sont inspectés. Le modèle d'éclairage intégré fonctionne avec l'étape de processus automatisé et fournit un niveau de précision constant sur une variété de substrats d'appareils différents. En outre, l'équipement est également capable d'imiter des plaquettes entières à grande vitesse, de gagner du temps et de l'effort tout en fournissant des images numériques ultra haute résolution pour la révision et l'analyse des défauts. Le système est également équipé de technologies avancées d'analyse des données qui permettent d'identifier des caractéristiques auparavant inaperçues, ainsi que la reconnaissance et la classification cohérentes des défauts. La capacité d'imagerie supérieure de TENCOR ES 32 et l'analyse avancée des données sont des éléments clés pour s'assurer que l'inspection des masques et des plaquettes est effectuée avec précision et précision. La combinaison du chargement automatisé des échantillons, de l'imagerie ultra haute résolution et de l'analyse avancée des données assure un débit maximum et d'excellents résultats pour les clients. Cette combinaison avec ses composants haut de gamme, tels que sa technologie d'imagerie ultra haute résolution et son unité d'éclairage intégrale, le place au premier rang des leaders de l'industrie dans MWI.
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