Occasion KLA / TENCOR eS35 #9236715 à vendre en France

KLA/TENCOR eS35 est un équipement avancé d'inspection des masques et plaquettes conçu pour détecter et corriger les défauts critiques sur les masques et plaquettes semi-conducteurs. KLA eS35 offre une flexibilité et une vitesse supérieures, lui permettant de prendre des décisions rapides et précises sans risquer le rendement ou la précision. Cette solution d'imagerie intégrée combine une source laser de haute puissance, des algorithmes de correction d'image et un logiciel de gestion des défauts de pointe pour fournir un système d'inspection complet pour l'industrie des semi-conducteurs. A son cœur, TENCOR ES 35 est constitué d'un capteur d'image aérienne à grande surface et haute résolution, d'une unité optique, d'une source laser intégrée et d'un algorithme avancé de correction de défauts. La source laser émet un faisceau lumineux intense qui est réfléchi par la plaquette ou le masque sous contrôle. Ce faisceau de lumière est détecté par le capteur d'image aérienne haute résolution et est parcouru par la machine optique. L'outil optique permet des mesures extrêmement précises de la forme et de la topographie de surface du masque ou de la plaquette. L'algorithme de correction de défauts est alors utilisé pour comparer les données de l'image avec une image de référence, et les erreurs éventuelles sont identifiées et corrigées. TENCOR eS35 est capable de détecter des défauts jusqu'à 0,004 microns et peut mesurer jusqu'à 10 couches différentes d'un masque ou d'une plaquette donné. Cela se fait en utilisant un rapport signal/bruit supérieur et une dynamique élevée, ce qui donne une qualité d'image exceptionnelle. ES35 est équipé d'un outil de surveillance de processus entièrement automatique, qui peut valider la conception du masque ou de la plaquette à un stade très précoce et surveiller tout changement qui peut survenir pendant le traitement. KLA ES 35 peut également être utilisé pour mesurer des caractéristiques spécifiques sur masque ou plaquette qui ne sont pas visibles à l'œil nu. Il est capable de mesurer des caractéristiques aussi petites que 0,008 microns, et il peut également détecter des défauts qui sont invisibles à l'œil humain. Cela comprend, sans s'y limiter, les défauts qui peuvent résulter d'une contamination, de contacts non uniformes, d'un câblage défectueux et plus encore. ES 35 fournit également aux utilisateurs une gamme d'outils de productivité tels que le suivi des défauts, la gestion des plaquettes et une bibliothèque numérique de défauts. Tous ces éléments sont particulièrement utiles pendant les procédures de validation, en veillant à ce que le masque et la plaquette respectent les normes d'assurance de la qualité et d'intégrité du produit. Dans l'ensemble, KLA/TENCOR ES 35 est un outil précieux pour l'assurance qualité dans l'industrie des semi-conducteurs et est un excellent complément à tout procédé de fabrication. En combinant des sources laser de haute puissance, une imagerie aérienne haute résolution et des algorithmes avancés de correction de défauts, il fournit une solution d'imagerie intégrée avec une précision et une vitesse inégalées.