Occasion KLA / TENCOR EV300 #9019927 à vendre en France

KLA/TENCOR EV300 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour l'industrie des semi-conducteurs, spécialement pour l'inspection des masques et des plaquettes à haute résolution. Le système combine la technologie d'inspection des plaquettes KLA et la technologie d'inspection des masques TENCOR, offrant aux clients une solution d'inspection complète et performante. KLA EV 300 est l'un des systèmes d'inspection des masques et plaquettes les plus rapides et les plus puissants disponibles, grâce à son matériel et son logiciel intégrés. L'unité a une vitesse de balayage maximale de 17,4 μ m/s, permettant une inspection rapide et efficace. Il est également équipé d'une machine d'imagerie optique avancée et d'une tête d'inspection éclairée par laser, ce qui lui permet de détecter les défauts microscopiques avec une précision et une sensibilité inégalées. En outre, l'outil est équipé d'un atout breveté de contrôle de la focale, lui permettant de scanner un plus large éventail de matériaux avec plus de précision que jamais auparavant. Le modèle TENCOR EV-300 dispose d'une interface conviviale, qui permet à l'utilisateur d'accéder et de contrôler rapidement et facilement diverses fonctions d'inspection, telles que la sélection des défauts d'image à inspecter, les mises en page d'analyse, les paramètres et les modes d'étalonnage. De plus, l'équipement est capable d'exécuter plusieurs balayages simultanément, ce qui permet des résultats plus rapides. Avec son interface utilisateur intuitive et ses capacités étendues, le système peut aider les fabricants de semi-conducteurs à gagner du temps et de l'argent tout en obtenant un maximum de précision et de performance. EV300 est également livré avec un logiciel d'analyse d'image puissant, fournissant des outils d'identification et de classification des défauts faciles à utiliser. Le logiciel prend également en charge le script, permettant une analyse complexe des défauts et une auto-classification. De plus, l'unité dispose d'une fonctionnalité d'étalonnage intégrée, lui permettant de s'adapter automatiquement aux conditions changeantes de l'environnement ou du substrat. La machine KLA EV300 fournit une solution complète et performante d'inspection des masques et des plaquettes avec une vitesse, une précision et une sensibilité inégalées. Son matériel et son logiciel intégrés, son interface conviviale, sa vitesse de balayage rapide, son outil d'imagerie optique avancé, sa tête d'inspection éclairée au laser et son puissant logiciel d'analyse d'image en font un excellent choix pour tout fabricant de semi-conducteurs.