Occasion KLA / TENCOR FLX-5400 #9088894 à vendre en France
Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.
Appuyez sur pour zoomer
Vendu
ID: 9088894
Stress measurement system
Measurement area: 1 ~ 10 Mpa
Throughput: 60 wafers per hour
H3 Handler
GEM/ SECS
(2) Lasers: Red and Infrared
Intensity: 2~4 at 670 nm, and 2~4 at 750/780 nm
Wafer presence sensor
Vacuum sensor
Open cassette port: 8"
OS: Windows 3.11
Software" WINFLX 4.40
CPU: MMX 233 MHz
Floppy disk: Yes
LED Monitor
HP Deskjet 660C printer
Facility requirements
Main body: 100 VAC, 1P, 50/60 Hz at 7A
Printer: 115 VAC, 1P, 50/60 Hz at 7A
Input vacuum: 560 mmHg
1996 vintage.
KLA/TENCOR FLX-5400 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes utilisé pour détecter et caractériser les défauts de fabrication présents dans les dispositifs semi-conducteurs. Ce système puissant combine une technologie avancée d'inspection des plaquettes et une interface logicielle puissante et infaillible pour garantir les dispositifs semi-conducteurs de la plus haute qualité. KLA FLX-5400 dispose d'un champ de vision personnalisable (FOV) qui permet aux utilisateurs de modifier la taille de la zone inspectée et l'étalonnage de l'unité. Cela permet aux utilisateurs d'adapter le FOV à leurs exigences spécifiques, et offre également la flexibilité pour inspecter de très petits défauts ou des caractéristiques plus grandes. La machine est également capable de faire varier le champ de vision tout au long du processus d'inspection pour éviter les faux positifs dus à des anomalies de champ de vision. Au cœur de TENCOR FLX 5400 se trouve un sous-système d'inspection de haute puissance, qui se compose de quatre capteurs CCD avancés qui effectuent une technique spécialisée d'éclairage modulé, appelée projection de frange Moiré. Cette technique avancée est utilisée pour détecter des variations minuscules de topographie qui ne peuvent pas être vues avec les méthodes traditionnelles basées sur l'optique. TENCOR FLX-5400 utilise également ces capteurs CCD avancés pour aligner automatiquement la plaquette pour une détection optimale des fonctionnalités, et fournit des algorithmes puissants de détection des bords qui permettent aux utilisateurs de détecter les variations subtiles des bords. L'outil dispose également d'une gamme de fonctionnalités qui assurent la détection de défauts de haute précision et l'amélioration de l'image. Ces caractéristiques comprennent la technologie de restructuration de l'image, qui corrige l'illumination non uniforme, un algorithme tridimensionnel de détection des caractéristiques qui augmente les capacités de détection des défauts, et un actif intégré d'examen des défauts qui fournit une résolution réaliste lors de l'évaluation des défauts. En outre, KLA FLX 5400 fournit une interface logicielle conviviale qui réduit le temps de formation et d'installation de l'équipement. Une interface graphique utilisateur intuitive (interface graphique graphique) guide les utilisateurs tout au long du processus de configuration, y compris la configuration des paramètres d'inspection, l'attribution des couches et le réglage des images. Sa puissante suite logicielle comprend également de puissants outils logiciels FLX, tels que la classification automatisée des défauts, la réduction des faux défauts, et un outil de vérification de modèle. En résumé, KLA/TENCOR FLX 5400 est un modèle avancé d'inspection des masques et des plaquettes qui combine une technologie sophistiquée de détection des défauts basée sur l'optique et des fonctions d'inspection avancées avec une interface logicielle intuitive pour donner aux utilisateurs un outil puissant pour maintenir les dispositifs semi-conducteurs de la plus haute qualité.
Il n'y a pas encore de critiques