Occasion KLA / TENCOR / ICOS CI-T120 #293794311 à vendre en France

KLA/TENCOR/ICOS CI-T120 est un puissant équipement d'inspection Masque et Wafer conçu pour améliorer la gestion des défauts et les performances de rendement dans l'industrie des semi-conducteurs. Le système dispose d'un étage optique haute résolution pour l'imagerie en profondeur des défauts, qui est capable de scanner une plaquette entière en aussi peu que 60 secondes. En même temps, l'unité est également équipée d'algorithmes automatisés de classification des défauts pour identifier et quantifier rapidement et précisément les défauts avec une intervention minimale de l'utilisateur. En outre, KLA CI T120 est équipé d'une machine de calibrage in situ pour garantir des performances et des résultats optimaux, ce qui permet à l'utilisateur d'ajuster la sensibilité de l'outil à la volée afin de s'adapter aux conditions changeantes du processus. La combinaison des fonctionnalités de ICOS CI T 120 en a fait un outil puissant pour les applications d'imagerie avancées et de routine. Les algorithmes sophistiqués de l'actif permettent des fonctionnalités avancées telles que le plot de collage et l'identification de coin, dont les résultats sont utilisés pour l'extraction de fonctionnalités supplémentaires. Ce niveau avancé d'imagerie est également bénéfique pour les applications courantes telles que l'analyse de concordance de motifs et les mesures de largeur de ligne. L'interface logicielle d'ICOS CI-T120 est très intuitive et simple, même pour les utilisateurs inexpérimentés. La hiérarchie intuitive des menus permet une navigation facile dans les nombreuses fonctionnalités du logiciel, tandis que les algorithmes avancés de classification des défauts et le modèle de calibration in situ permettent un contrôle complexe du processus d'inspection. Dans l'ensemble, CI T120 Mask & Wafer Inspection Equipment est une solution idéale pour les fabricants de semi-conducteurs qui nécessitent des applications d'imagerie avancées et une classification automatisée des défauts. Ses algorithmes sophistiqués et son interface utilisateur intuitive en font un outil puissant pour les applications avancées et courantes, qui permet aux utilisateurs d'identifier et de quantifier rapidement et précisément les défauts avec une intervention minimale de l'opérateur.