Occasion KLA / TENCOR / ICOS CI-T130 #9389311 à vendre en France

KLA/TENCOR/ICOS CI-T130 est un équipement d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour fournir des performances et une précision élevées pour l'inspection des éléments critiques sur les plaquettes semi-conductrices avancées. Le système offre à la fois une qualité d'image optique supérieure et une résolution pour permettre une inspection complète des défauts. Il est équipé de deux fentes de plaquettes, une pour l'imagerie et une pour la vérification des motifs, ainsi que d'une fonctionnalité de haute précision avant et après traitement des images afin d'assurer la cohérence des résultats de détection et de classification des défauts. KLA CI-T130 est une unité évoluée et polyvalente conçue pour fournir une révision rapide et précise des défauts. Il est équipé d'une caméra CCD haute résolution qui peut être adaptée aux exigences spécifiques de l'imagerie. Avec une large gamme d'optiques disponibles, il est capable de réaliser une variété de techniques d'imagerie telles que la capture de micro-défauts, la capture à grande surface, les images ultra haute résolution, et les images transversales. La machine comprend également deux canaux vidéo pour visualiser sur un moniteur ou sur un outil automatisé d'analyse d'image. L'actif est conçu pour un fonctionnement facile et offre une interface utilisateur intuitive pour réduire le temps de configuration et optimiser les performances et la précision. L'utilisateur a la possibilité de configurer rapidement le modèle pour l'inspection avancée des défauts et l'examen au moyen d'un menu graphique interactif. Les bibliothèques logicielles facultatives peuvent optimiser la détection de classes de défauts spécifiques, tels que les défauts de ligne, les défauts de particules, les processus défectueux, les niveaux de densité et les variations de géométrie. Des algorithmes de traitement avancés peuvent être utilisés pour réduire les faux résultats et améliorer la confiance en matière de détection. ICOS CI-T130 dispose d'un large éventail de fonctions en ligne facultatives pour soutenir des applications d'inspection complètes. Ces fonctions comprennent l'enregistrement des masques, la cartographie des plaquettes, l'entretien préventif in situ, la compensation des processus et le suivi des plaquettes. Il comprend également un ensemble optionnel de traitement d'image haute performance qui améliore l'acquisition de données. Dans l'ensemble, TENCOR CI-T130 est un équipement hautement capable pour l'inspection des masques et des plaquettes. Ses fonctionnalités avancées, ses systèmes optiques puissants et ses algorithmes sophistiqués représentent la pointe des innovations technologiques et créent une plate-forme idéale pour les fabricants et les ingénieurs de test. La flexibilité, la facilité d'utilisation et la précision du système lui permettent de servir de pierre angulaire d'une solution complète d'inspection des semi-conducteurs.