Occasion KLA / TENCOR / ICOS CI-T830 #293642451 à vendre en France

Le masque KLA/TENCOR/ICOS CI-T830 et l'équipement d'inspection des plaquettes sont des outils de pointe utilisés pour détecter les anomalies lors de la production de semi-conducteurs. KLA CI-T830 permet des examens précis et précis des masques et des plaquettes avec son système d'optique et d'imagerie avancé. ICOS CI-T830 dispose d'une unité optique multidimensionnelle conçue pour analyser plusieurs aspects différents des puces pour toutes les imperfections. Cette machine est capable d'inspecter plusieurs milliers de sites à la fois et est capable de détecter des particules très minuscules. L'outil utilise des algorithmes d'analyse précis pour différencier les faux positifs des défauts réels. L'actif utilise en outre deux CCD très sensibles, qui peuvent balayer en continu des plaquettes semi-conductrices jusqu'à 25,4 centimètres de diamètre. Ce modèle est capable de scanner dans un temps beaucoup plus court que les systèmes similaires non-KLA, le traitement des puces avec des fonctionnalités submicroniques dans une fraction du temps. CI-T830 utilise également la technologie ICOS SignalPlus, qui combine une variété de méthodes d'imagerie pour identifier les disparités entre les caractéristiques de conception et de processus jusqu'au niveau de subresolution. De même, leur technologie WaferEdge peut identifier les problèmes de désalignement de bord sous-différencié ou de défocalisation de bord de puce avant qu'ils ne deviennent un problème dans le produit final. En plus de l'inspection, TENCOR CI-T830 prend également en charge une variété de fonctions de contrôle de processus. Ces caractéristiques permettent d'utiliser l'équipement pour améliorer les rendements et les temps de cycle lors des processus de fabrication. Le système est également compatible avec une optique unique pour s'adapter à différentes technologies, comme les transducteurs 3D ou les nanotiles personnalisés. KLA/TENCOR/ICOS CI-T830 est un outil essentiel et inestimable dans le processus de production des semi-conducteurs. Son unité précise, rapide et polyvalente peut détecter les défauts de production avant qu'ils ne deviennent des problèmes coûteux. Pour les fabricants, cette machine garantit un produit fiable et de haute qualité en temps opportun.