Occasion KLA / TENCOR KLA2810 #9241188 à vendre en France

KLA/TENCOR KLA2810 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes développé par KLA, qui est utilisé pour détecter les défauts dans les produits de circuits intégrés (IC). Le système combine une technologie avancée de capture et d'analyse d'images avec une optique innovante pour fournir une inspection précise et répétable des défauts. KLA KLA2810 est basé sur l'architecture avancée de TENCOR, qui lui permet d'atteindre un débit élevé avec des temps de cycle d'inspection courts. Cela permet à l'unité de détecter rapidement les erreurs dans le processus de fabrication et d'optimiser le rendement en aval. TENCOR KLA2810 peut inspecter une grande variété de tailles de substrat, y compris des plaquettes, des masques et des photomasques, avec une gamme de résolutions allant de 0,1 micron à plus de 20 microns. Il dispose d'une machine à caméra haute vitesse intégrée avec des résolutions de pixels 2K, 4K et 5K, couplée à une puissante plate-forme de traitement d'image. Les outils logiciels de KLA2810 permettent un réglage et un filtrage rapides et faciles. Cela permet à l'outil de détecter une grande variété de motifs de défauts avec une grande précision. Des algorithmes avancés de détection de défauts, tels que la volumétrie, la couleur, le bruit de grain et la résistivité, peuvent être utilisés pour localiser les modèles communs trouvés lors des inspections initiales du masque. En outre, KLA/TENCOR KLA2810 peut interagir avec des sources de données externes et des systèmes de gestion du rendement, permettant une analyse rapide et efficace des performances de production lors du diagnostic et de la résolution. KLA/TENCOR offre également une série d'options de classification des défauts, qui peuvent aider les utilisateurs à déterminer le type de défaut et sa source afin de réduire les retravaillements en aval. En résumé, KLA KLA2810 est un outil puissant, rapide et précis d'inspection des masques et des plaquettes qui peut aider les fabricants à détecter les défauts rapidement et avec précision. Grâce à ses capacités avancées de capture et d'analyse d'images, à ses temps de cycle rapides et à ses options avancées de classification des défauts, il peut fournir une solution efficace et économique pour traiter les problèmes de défauts dans les circuits intégrés.