Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX 2138 XP #121998 à vendre en France

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ID: 121998
Taille de la plaquette: 8"
Style Vintage: 1998
In-line patterned wafer inspection system, 8", 1998 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX 2138 XP est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour faciliter la production de dispositifs semi-conducteurs. Le système permet de détecter des défauts critiques sur plusieurs masques et plaquettes afin de garantir la plus haute qualité possible d'un dispositif. L'unité comprend une caméra haute performance, une technologie de diffraction laser à 4 canaux, des sondes intégrées de reconnaissance de motifs et d'imagerie. KLA 2138 XP est également livré avec une suite logicielle complète qui fournit la flexibilité et la précision nécessaires pour l'inspection précise du masque et des plaquettes. TENCOR 2138 XP utilise une tête de caméra unique pour capturer les images des masques et des plaquettes. La tête de caméra est constituée d'un capteur d'image numérique et d'une optique qui s'ajustent automatiquement au grossissement de l'échantillon inspecté. Cela permet à la fois une haute résolution des petites fonctionnalités ainsi qu'un faible grossissement des plus grandes caractéristiques. Les images haute résolution permettent à l'utilisateur d'inspecter les caractéristiques à l'échelle nanométrique avec une précision inégalée. La technologie de diffraction laser à 4 canaux utilisée dans la machine fournit une sensibilité de détection extraordinaire. La diffraction laser à 4 canaux fonctionne en utilisant plusieurs faisceaux laser pour détecter des défauts mineurs sur le masque et la plaquette. L'outil traite les images du faisceau laser multiple ensemble, d'où une sensibilité beaucoup plus élevée qu'un atout du faisceau unique. Les puissantes capacités de reconnaissance de motifs de 2138 XP permettent au modèle d'identifier et de distinguer facilement les défauts critiques et non critiques. En outre, les sondes d'imagerie avancées intégrées à l'équipement offrent une large gamme de capacités d'imagerie. Ces capacités comprennent l'imagerie latérale, l'analyse de texture de surface et l'inspection du ton inverse. Les sondes d'imagerie PROMETRIX 2138 XP fournissent une analyse extrêmement précise de la texture de surface et de la qualité des motifs latéraux. KLA/TENCOR/PROMETRIX 2138 XP comprend également une suite logicielle complète qui comprend une gamme d'outils puissants et flexibles pour diverses tâches d'inspection des masques et des plaquettes. Le logiciel propose des outils tels que la détection et la classification des défauts, l'enregistrement automatique des masques et la classification des défauts. En outre, le logiciel fournit des menus conviviaux et une interface qui permettent à l'utilisateur de naviguer facilement dans les complexités du système. KLA 2138 XP fournit le plus haut niveau de précision de détection des défauts et de couverture pour les masques et les plaquettes. Sa caméra haute résolution, sa technologie de diffraction laser à 4 canaux et ses sondes intégrées de reconnaissance de motifs et d'imagerie, combinées à sa suite logicielle complète, fournissent aux utilisateurs les outils dont ils ont besoin pour garantir le plus haut niveau de qualité dans leurs dispositifs semi-conducteurs.
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