Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX 2138 XP #9153008 à vendre en France

KLA / TENCOR / PROMETRIX 2138 XP
ID: 9153008
Wafer inspection system.
KLA/TENCOR/PROMETRIX 2138 XP est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour inspecter les défauts critiques de motifs sur les photomasques et les plaquettes. Le système utilise une technologie avancée d'inspection du faisceau d'électrons (faisceau électronique) pour analyser les images d'un appareil et identifier tout défaut à l'échelle d'un nanomètre. L'unité peut détecter des lignes manquantes, des courts-circuits, des circuits ouverts, des caractéristiques de sous-coupe et des erros de largeur de ligne parmi d'autres erreurs possibles. KLA 2138 XP se compose de trois composantes principales : le dispositif e-beam, l'imagerie et l'analyse. Le dispositif e-beam est chargé de balayer la surface du dispositif et de générer des images de sa surface. La machine d'imagerie prend ensuite ces images e-beam et les traite à l'aide d'un algorithme avancé pour identifier et analyser les défauts éventuels sur le dispositif. L'outil d'analyse prend ensuite les résultats d'analyse et applique une variété d'algorithmes avancés pour déterminer l'emplacement, la taille et la catégorie des défauts. Toutes ces analyses sont effectuées en temps réel pour s'assurer que les défauts éventuels sont détectés et analysés avec précision. TENCOR 2138 XP utilise un grand faisceau électronique de haute précision pour balayer l'appareil à plusieurs angles et distances différents afin d'assurer une couverture complète. Cela permet d'obtenir des images plus précises qui sont ensuite analysées pour les défauts à l'aide d'algorithmes avancés. Il peut scanner des surfaces aussi petites que 0,2 microns, en s'assurant que tous les défauts possibles sont détectés et analysés. L'actif d'imagerie utilise alors ses caméras haute résolution pour capturer des images du dispositif et convertir ces images en points de données utiles. Le modèle analytique prend alors ces points de données et applique une variété d'algorithmes pour déterminer la taille et l'emplacement des défauts constatés. Il peut également détecter et différencier les zones de chevauchement, permettant une meilleure précision lors de l'identification d'éventuels défauts. L'équipement d'analyse permet également à l'utilisateur de définir des paramètres personnalisés, tels que la taille et la forme des défauts, pour permettre des résultats meilleurs et plus précis. PROMETRIX 2138 XP est conçu pour être un système d'inspection des masques et plaquettes fiable, efficace et précis. Il utilise une technologie avancée d'inspection des faisceaux électroniques et une unité d'analyse sophistiquée pour assurer une analyse et une détection précises des défauts. Ses capacités d'analyse avancées le rendent capable de produire des résultats fiables, même sur des surfaces extrêmement petites, et son interface conviviale le rend facile à utiliser. Enfin, sa conception modulaire permet aux utilisateurs de mettre à niveau et de personnaliser facilement la machine pour des applications spécifiques.
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