Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX Candela CS920 #9269026 à vendre en France

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ID: 9269026
Style Vintage: 2016
Optical surface analyzer SiC/SiC (EPI Layer) 2016 vintage.
KLA/TENCOR/PROMETRIX Candela CS920 est une plate-forme d'essai et de métrologie intégrée haute performance conçue pour la production de semi-conducteurs à haut volume. La plateforme offre une gamme complète de services de test et de mesure pour la production de plaquettes, de la métrologie en une seule étape aux tests de plaquettes au niveau du système. La plate-forme comprend des technologies optiques et microélectromécaniques avancées (MEMS), permettant une imagerie 3D sans contact très précise de la topographie de surface de la plaquette. Cela est soutenu par une variété d'options logicielles d'imagerie, permettant aux utilisateurs de capturer, traiter et analyser les données avec une précision précise. La plate-forme est idéale pour mesurer les dimensions critiques (CD), isoler les défauts et effectuer une gamme de tests paramétriques. Les capacités d'essai et de mesure de la plate-forme comprennent les essais de résistivité, les mesures de fuites, la caractérisation de la surface, les essais de capacités électriques et de résistances, les mesures acoustiques, l'analyse des défaillances, la comparaison entre les filières, la détection isolée des défauts et les mesures de rugosité. La plate-forme dispose d'une architecture puissante et évolutive, offrant des performances robustes et des capacités de traitement fiables pour une grande variété d'applications de test de plaquettes et de métrologie. Il est livré avec une large gamme d'options de personnalisation, permettant aux utilisateurs d'adapter la plateforme à leurs besoins individuels. En outre, la plate-forme supporte des capacités d'automatisation complètes, avec un système robotique entièrement intégré qui permet jusqu'à 40 appareils d'être testés avec précision simultanément. La plate-forme exploite les dernières technologies de traitement de données, d'analyse d'images et de signaux, permettant aux utilisateurs de générer des rapports de test et d'analyse de wafer complets en temps réel. Cela comprend la capacité d'interagir avec une variété de bases de données, permettant aux utilisateurs d'accéder à un seul répertoire complet de résultats d'essai pour le suivi et l'analyse des données. En conclusion, KLA Candela CS920 est une plate-forme de test et de métrologie de wafer très avancée conçue pour simplifier et rationaliser diverses applications de production de wafer. La plate-forme combine des technologies optiques et MEMS avancées, une robotique automatisée, une architecture puissante évolutive et des capacités de personnalisation complètes pour fournir des données précises et fiables aux utilisateurs en temps réel.
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