Occasion KLA / TENCOR / PROMETRIX INS 3300 #9206058 à vendre en France

KLA/TENCOR/PROMETRIX INS 3300 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes conçu pour la fabrication avancée de semi-conducteurs. C'est un système à haute résolution qui combine une unité d'imagerie optique sophistiquée avec une machine de métrologie avancée. Il est capable de contrôler le niveau de la plaquette et du niveau de la matrice, et peut détecter un large éventail de défauts sur une variété de substrats. L'outil d'imagerie optique se compose d'une caméra CCD haute résolution et d'un puissant atout d'imagerie spectrale. La caméra CCD permet l'imagerie précise de différents substrats tels que le silicium, les métaux et les polymères. Le modèle d'imagerie optique peut détecter une variété de défauts tels que des rayures, des rayures entourées de débris, des particules et des écarts de largeur de ligne. En métrologie, KLA INS 3300 utilise un équipement automatisé d'alignement point-source pour mesurer avec précision et rapidement les paramètres critiques tels que les largeurs de ligne, la superposition et la sensibilité. Ce système peut également être utilisé pour des mesures de profils de profondeur non destructifs, des mesures de permittivité et des mesures de dimensions critiques. L'unité est également équipée d'un progiciel de pointe qui permet l'inspection automatisée des défauts de niveau des plaquettes et des matrices. Ce logiciel peut détecter des défauts tels que des variations de largeur de ligne, des particules et des débris, et des erreurs de recouvrement. Il permet également de détecter les défauts de pontage grâce au profilage ligne-bord et aux mesures d'angle de flanc. Dans l'ensemble, TENCOR INS 3300 est une machine avancée d'inspection de masque et de plaquettes conçue pour la fabrication moderne de semi-conducteurs. Sa combinaison de systèmes d'imagerie optique et de métrologie fournit un niveau de précision et de précision inégalé pour l'inspection des appareils. En outre, son logiciel robuste permet la détection automatisée des défauts, assurant le rendement le plus élevé de tous les types de substrat.