Occasion KLA / TENCOR SL3 #293829418 à vendre en France

KLA/TENCOR Starlight SL3 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes conçu pour les opérations de fabrication de semi-conducteurs. Il offre une imagerie haute résolution pour identifier les défauts et la contamination des surfaces de masque, ainsi que les surfaces de plaquettes elles-mêmes. Le système fournit également des outils d'imagerie et d'analyse avancés pour détecter et identifier rapidement les défauts. KLA Starlight SL3 dispose d'une unité optique haute performance avec sélection de longueur d'onde avancée et ouverture numérique plus élevée pour assurer une meilleure qualité d'image. Cela comprend un scanner double axe, qui balaye et image la surface du masque à deux angles pour permettre une détection plus précise des défauts. La machine comprend également plusieurs techniques d'imagerie avancées, telles que l'analyse de points, l'analyse de lignes et le cadrage panoramique, qui garantissent que les surfaces des plaquettes et des masques sont inspectées avec précision au plus grand grossissement possible. TENCOR Starlight SL3 dispose d'un outil sophistiqué d'analyse d'image pour détecter, classer et mesurer les défauts présents sur les surfaces de masque et de plaquette. Cela comprend l'actif de détection des défauts adaptatifs (ADD), qui peut « apprendre » à identifier les défauts dans les surfaces de masque et de plaquette qui peuvent ne pas être facilement identifiés par les humains. Le Module d'examen et d'analyse des défauts (DRAM) permet une analyse détaillée des défauts et des contaminants, fournissant une rétroaction en temps réel sur leur emplacement, leur type de défaut, leur taille, leur forme et leur amplitude. Le modèle offre également une classification automatique des défauts afin de minimiser le besoin d'inspection manuelle. Starlight SL3 offre un fonctionnement convivial aux inspecteurs et une interface opérateur puissante. Il comprend plusieurs logiciels pour aider les opérateurs à configurer, configurer et contrôler l'équipement. Il s'agit notamment du logiciel Mask Editor, du logiciel d'inspection de PC et du logiciel Win Toolbox. Le système peut également être intégré à d'autres équipements et bases de données de fabrication de semi-conducteurs pour fournir une vue d'ensemble du processus de production. KLA/TENCOR Starlight SL3 est conçu pour un fonctionnement fiable et précis avec une faible empreinte. Son faible coût de possession et ses exigences minimales de maintenance en font un choix idéal pour de nombreuses opérations de fabrication de semi-conducteurs. L'unité est conçue pour fournir aux fabricants une détection rapide et précise des défauts de leurs surfaces critiques de masque et de plaquettes.