Occasion KLA / TENCOR SP 200 #293608654 à vendre en France

KLA/TENCOR SP 200 Masque and Wafer Inspection Equipment est un système polyvalent hautement automatisé conçu pour la détection des défauts dans les masques et les plaquettes de circuit intégré (IC). L'unité est utilisée pour l'inspection, l'examen et le tri des masques et des plaquettes à différents niveaux, depuis l'analyse de base des plaquettes jusqu'à l'analyse des défauts. La machine KLA SP 200 utilise une plateforme logicielle personnalisable qui peut être adaptée aux besoins spécifiques de chaque application. L'outil comprend une capacité unique d'imagerie haute résolution qui permet la détection de défauts aussi petits que 5 nanomètres. Il comprend également un laser à double faisceau, un traitement d'image de haute précision et une tête de balayage sans contact pour un alignement précis du masque et pour la détection précise et fiable des puces hors tolérance. L'actif peut être utilisé pour diverses applications, y compris les inspections comparatives die-to-die et die-to-wafer ; trouver des fils en pente et en pontage ; estimation du rendement et diagnostic des défauts de puce, des fuites et des raccourcis. Le modèle peut être utilisé pour améliorer le contrôle des processus et augmenter le débit. L'équipement comprend des logiciels de support intégrés et des composants matériels. Le logiciel comprend l'acquisition de données et l'examen des défauts. Il peut détecter toute une gamme de défauts, y compris des désalignements, des effets d'inclinaison, des ponts, des pincements, des shorts, des fiduciaires mal formés, des fiduciaires mal alignés, des éléments manquants, des défauts aléatoires, des dommages aux puces, et des non-uniformités dans l'enregistrement des masques ou des plaquettes ou la taille des matrices. Il comprend également l'accès à la base de données pour les spécifications des produits, et une variété d'outils de programmation et de simulation automatiques, ainsi que des logiciels pour l'analyse statistique. L'architecture du système comprend également des fonctions automatisées de retravaillement et d'analyse des données. Les composants matériels sont constitués d'un laser à double faisceau dans un scanner mécanisé spécifique à la plaquette/masque. Cela permet un alignement et un balayage rapides et précis des masques et des plaquettes. L'unité TENCOR SP 200 fournit également une variété d'outils pour améliorer les performances de la machine, y compris des outils de traitement d'image et d'amélioration des fonctionnalités, ainsi que des outils de reconnaissance de motifs, d'évaluation d'image couleur et d'algorithmes avancés pour l'appariement des modèles. Avec son imagerie haute performance et sa détection fiable des défauts, SP 200 offre un excellent rapport qualité-prix et est un excellent choix pour l'inspection et l'analyse des défauts des masques et des plaquettes.