Occasion KLA / TENCOR SP1 Classic #169068 à vendre en France

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ID: 169068
Taille de la plaquette: 8" - 12"
Style Vintage: 1998
Wafer surface analysis system, 8" and 12" Specifications: Wafer size: 8" open cassette and 12" FOUP configuration Provides sensitivity, repeatability, surface quality measurements and throughput capabilities required for 0.18µm technologies 0.08um Defect Sensitivity on Well-Polished Silicon 95% Capture Defect Map & Histogram with Zoom Micro View Measurement Capability Up to 150 Wafers Per Hour throughput on 200mm Wafers Illumination Source: 30 mW Argon-Ion Laser, 488nm Wavelength Version 3.8 Software Operator Interface: MS Windows NT 4.0 OS TFT Flat Panel Display Parallel Printer Port Operations Manual for KLA SP1 Classic 1998 vintage.
KLA/TENCOR SP1 Classic est un équipement entièrement automatisé d'inspection des masques et plaquettes qui est conçu pour fournir un débit plus élevé, un rendement plus élevé et une meilleure détection des défauts. Le système dispose d'un détecteur avancé, d'une optique et d'algorithmes sophistiqués qui lui permettent d'atteindre de hauts niveaux de performance. Chaque unité est livrée avec des accessoires tels qu'une caméra IR et une source lumineuse LED avec un objectif de zoom qui peut être configuré pour différentes spécifications. KLA SP1 Classic comprend un capteur CCD haute résolution avec un filtre couleur quadrillé intégré. Cela permet à la machine de détecter les défauts verticaux et horizontaux, ainsi que d'identifier l'emplacement exact des défauts avec une extrême précision. Il dispose également d'un outil d'autofocus haute vitesse, permettant à l'actif de détecter même le moindre écart par rapport au modèle ou aux spécifications requises. TENCOR SP 1 CLASSIC dispose de plusieurs modes d'utilisation différents, y compris des modes manuels et interactifs, pour permettre aux utilisateurs d'analyser et d'inspecter différents types de défauts. Le modèle est également livré avec une bibliothèque de routines d'analyse prédéfinies, y compris des routines de détection de défauts de haute qualité, qui peuvent être utilisées pour évaluer et analyser rapidement les plaquettes de défaut de masque. SP1 Classic est conçu pour fonctionner dans un environnement sans poussière, et dispose d'une petite empreinte qui lui permet de s'adapter dans des espaces serrés. Il est équipé d'un équipement de focalisation thermique intégré (TFS), qui permet au système d'ajuster automatiquement la mise au point et de maintenir la qualité de l'image. L'unité comprend également une machine d'imagerie améliorée (EIS), qui augmente considérablement la résolution et la précision de l'image. L'outil est très efficace et fiable, avec un faible coût par plaquette et un faible temps d'arrêt. Le processus automatisé d'examen des défauts permet aux utilisateurs d'examiner et de rejeter rapidement les défauts du masque, en veillant à ce qu'aucun ne se rende à la ligne de fabrication. KLA/TENCOR SP 1 CLASSIC fournit également une traçabilité complète, permettant aux utilisateurs de suivre les données des plaquettes et des masques pour fournir des enregistrements détaillés des tests effectués et des défauts détectés. Dans l'ensemble, KLA SP 1 CLASSIC est un excellent outil de masque et d'inspection des plaquettes qui peut être utilisé pour aider à augmenter le rendement et la qualité dans un cadre de production. Avec ses détecteurs et optiques avancés, ses algorithmes sophistiqués et ses processus automatisés, le modèle offre une solution économique et fiable pour les tests et l'inspection des plaquettes.
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