Occasion KLA / TENCOR SP1-DLS #9214561 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-DLS est un équipement d'inspection de masques et plaquettes, conçu pour la détection de défauts de pointe de l'industrie et l'imagerie haute résolution. Le système offre une imagerie de haute précision inégalée pour une couverture maximale des défauts et contribue à la gestion efficace des coûts de production et de fabrication. En outre, la détection de défaut de l'appareil est la plus sensible et la plus haute résolution avec son capteur CMOS avancé, conversion 12 bits A/D, et résolution de 3,4 μ m, près de 500 fois mieux que les techniques d'inspection traditionnelles. La machine comprend un traitement d'image intégré et rapide, un balayage des étages de plaquettes et des résultats en temps réel pour l'évaluation et le reporting. Il a la technologie d'imagerie de perturbation de faisceau zéro, qui aide à détecter et évaluer les modèles de sous-résolution. L'outil intègre également des outils d'analyse avancés, tels que la binarisation d'images, l'analyse de valeurs de pixels et la classification. En outre, KLA SP1 DLS intègre une technologie de couture d'image de haute précision pour la révision et l'impression des défauts. TENCOR SP 1-DLS est également conçu pour réduire les temps d'arrêt et augmenter l'efficacité. L'actif dispose d'une fonctionnalité brevetée « Go-To-Slice-Mode », permettant aux utilisateurs de sélectionner rapidement les plaquettes à inspecter. Cela améliore les débits et réduit les déchets, ce qui entraîne des économies importantes. Les capacités d'analyse à haut débit et à faible bruit du modèle le rendent plus efficace que les outils traditionnels. Enfin, SP1-DLS fournit une suite puissante d'algorithmes de détection automatisés pour l'inspection la plus précise de l'industrie. Ces algorithmes sont conçus pour détecter les petits défauts critiques, les écarts de configuration de routine et d'autres anomalies. En outre, l'équipement dispose d'une interface graphique conviviale qui permet aux utilisateurs de visualiser un large éventail d'informations statistiques et de surveiller les performances du système. L'unité KLA SP 1-DLS masque et wafer inspection est idéale pour produire les résultats d'imagerie les plus fiables et précis avec une couverture de défaut maximale. Ses caractéristiques de pointe, telles que la technologie d'imagerie à faisceau zéro, l'imagerie haute résolution, le traitement intégré des images et les algorithmes de détection automatisée, en font une option idéale pour une inspection de haute précision. La machine est également conçue pour réduire les temps d'arrêt avec sa fonctionnalité rapide en mode Aller-Trancher, offrant des économies de coûts et des débits supérieurs.