Occasion KLA / TENCOR SP1-DLS #9232641 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-DLS est un équipement d'inspection de masque et de plaquette qui combine la détection de défauts de haute précision avec un flux de travail rapide et automatisé. Il est conçu pour fournir des résultats rapides, précis et fiables afin de réduire les coûts de production et d'augmenter le rendement dans l'industrie des semi-conducteurs. Le système utilise la dernière technologie d'inspection des défauts, y compris les algorithmes avancés et le traitement d'image à grande vitesse. Cela permet à l'unité de détecter, localiser et classer les défauts rapidement, avec précision et fiabilité. La machine peut détecter un large éventail de défauts à la fois de champ lumineux et de champ sombre, y compris des défauts critiques, des points chauds de lithographie, et des irrégularités de processus. De plus, l'outil offre la flexibilité nécessaire pour configurer une tâche d'inspection à l'aide de diverses techniques d'analyse, y compris la focalisation automatisée, l'imagerie spectrale, le calage au foyer pour les échantillons inégaux et l'analyse par contraste. Cela garantit que tous les défauts pertinents sont identifiés avec précision. Les capacités avancées d'analyse des données du SP1 de l'UCK permettent également aux utilisateurs d'isoler et d'identifier les zones suspectes, ce qui leur permet de diagnostiquer rapidement et de corriger les problèmes de processus. L'interface utilisateur intuitive des systèmes permet aux utilisateurs d'ajuster rapidement et facilement les paramètres de détection sans sacrifier la précision. De plus, l'actif dispose d'un ensemble intégré d'analyses statistiques qui permet aux utilisateurs de comparer les résultats entre différentes plaquettes et étapes de processus. Le modèle est conçu pour fournir un débit maximum avec un minimum de temps d'arrêt. La conception avancée de l'équipement fournit le débit le plus élevé pour des temps d'inspection donnés, et les plaquettes sont chargées et déchargées en une seule étape. En outre, le système est équipé d'une unité de manutention de plaquettes multirails qui permet le chargement et la mesure simultanés, ce qui en fait un outil idéal pour les environnements de production à haut volume. Dans l'ensemble, TENCOR SP 1-DLS est une machine avancée d'inspection de masque et de plaquettes qui offre une détection de défauts de haute précision, des techniques d'analyse flexibles et un débit rapide dans un seul outil. Il est conçu pour fournir des résultats fiables et améliorer le rendement dans la fabrication de semi-conducteurs.