Occasion KLA / TENCOR SP1-DLS #9255089 à vendre en France

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ID: 9255089
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2006
Wafer inspection system, 12" Dual FOUP No bright field option No SMIF 2006 vintage.
KLA/TENCOR SP1-DLS est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour répondre aux exigences exigeantes des installations modernes de semi-conducteurs. Le système inspecte une grande variété de modèles de plaquettes, fournissant des résultats précis avec des taux de fausses alarmes exceptionnellement bas. En utilisant des algorithmes d'apprentissage profond intégrés KLA, KLA SP1 DLS atteint des niveaux de précision sans précédent dans la révision et la classification des défauts. L'unité fonctionne en imagant la surface de la plaquette au microscope, puis en analysant les résultats au moyen d'un logiciel spécialisé. Il peut alors identifier des défauts dans les motifs, caractérisés et regroupés par taille et type. La machine peut également identifier des défauts isolés et motivés, tout en distinguant la largeur de ligne, la largeur de ligne/la netteté de bord, et la rugosité de bord de ligne. TENCOR SP 1-DLS utilise une plate-forme de préparation des plaquettes très flexible et fiable, permettant aux opérateurs d'équipements de préparer rapidement et facilement les plaquettes pour inspection. Cette plate-forme est suffisamment robuste pour résister aux procédures de nettoyage répétées, et est conçue pour maximiser les taux de production et réduire le nombre de pièces par tranche. L'outil dispose d'une interface automatisée de transfert de fichiers et de contrôle d'analyse, permettant aux opérateurs de transférer rapidement et facilement des informations dans toute l'usine et vers les systèmes en amont et en aval. Cette interface fournit également une interface utilisateur intuitive, ce qui facilite le contrôle de l'actif depuis un endroit distant. KLA SP1-DLS intègre des fonctionnalités de vérification de révision avancée, permettant aux opérateurs de vérifier rapidement et facilement les résultats de l'inspection. Cette fonctionnalité est sauvegardée par des algorithmes de deep learning embarqués TENCOR, qui identifient avec précision les changements subtils de patrons. De plus, le modèle suit les métriques et les performances des outils, ce qui permet aux opérateurs de diagnostiquer et de dépanner rapidement et facilement les performances de l'équipement. Dans l'ensemble, TENCOR SP1 DLS est un masque et un système d'inspection des plaquettes puissants, fiables et polyvalents. Ses algorithmes avancés d'apprentissage profond intégrés fournissent une précision supérieure dans la révision et la classification des défauts, tandis que ses capacités automatisées de transfert et d'analyse de fichiers et son interface utilisateur intuitive font de l'exploitation de l'unité une brise. Sa plate-forme robuste de préparation des plaquettes et ses capacités de vérification des examens aident à réduire le nombre de pièces par plaquette, et sa fonctionnalité de mesure des outils fournit aux opérateurs de précieuses informations sur les performances. Prises ensemble, ces caractéristiques font de SP 1-DLS un choix idéal pour les installations semi-conductrices modernes.
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