Occasion KLA / TENCOR SP1-DLS #9257954 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-DLS est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes utilisé pour inspecter la précision des photomasques utilisés dans la fabrication de dispositifs semi-conducteurs. Les photomasques sont utilisés pour créer des composants sur des puces semi-conductrices qui hébergent des composants électroniques, la qualité des masques est critique pour la production de dispositifs semi-conducteurs de haute qualité. Le système SP1 DLS de KLA dispose de multiples technologies sophistiquées pour assurer une inspection fiable et précise des photomasques et pour surveiller les changements de processus et diagnostiquer les défauts. Les caractéristiques essentielles de l'unité comprennent une machine d'imagerie à micro-miroir haute résolution, une caméra numérique à balayage progressif, des algorithmes avancés de traitement d'image et un outil intégré d'inspection des défauts. L'actif d'imagerie à micro-miroir haute résolution est composé d'une paire de caméras numériques combinées à un éclairage rapide par balayage. L'appareil photo numérique à balayage progressif capture une image couleur complète en une seule période d'intégration, tandis que l'éclairage rapide de balayage est utilisé pour enlever divers artefacts de fond et de surface. TENCOR SP 1-DLS propose également des algorithmes avancés de traitement d'images. Le modèle utilise une combinaison d'algorithmes de correspondance de motifs, de transformation et d'échelle d'intensité basée sur le filtre pour analyser les images et détecter les défauts. En utilisant un processus d'analyse étape par étape, l'équipement est en mesure d'identifier rapidement les défauts potentiels, même dans des modèles très complexes. Le système intégré d'inspection des défauts offre une solution conviviale pour analyser les images des défauts potentiels. En utilisant des modèles d'analyse des défauts, les utilisateurs peuvent facilement inspecter les images pour détecter les défauts et les classer. Une fois la classification terminée, des outils automatisés peuvent être utilisés pour organiser les défauts et générer des rapports. Enfin, KLA SP 1 DLS dispose également d'une unité de comparaison automatisée des défauts, permettant aux utilisateurs de comparer les défauts sur plusieurs photomasques ou plaquettes. En utilisant cette fonctionnalité, les utilisateurs peuvent rapidement identifier les zones où des défauts sont présents ou déterminer si de nouveaux défauts sont apparus. En résumé, la machine KLA/TENCOR SP 1-DLS est un outil avancé d'inspection des masques et des plaquettes utilisé pour assurer des photomasques très précis pour la production de dispositifs à semi-conducteurs fiables. L'actif utilise de multiples technologies de pointe, telles qu'un modèle d'imagerie à micro-miroir haute résolution, une caméra numérique à balayage progressif et des algorithmes avancés de traitement d'image, pour détecter et classer les défauts rapidement et précisément. L'équipement intégré d'inspection des défauts offre une méthode conviviale d'inspection des images pour détecter les défauts tandis que le système automatisé de comparaison des défauts permet aux utilisateurs de comparer les défauts sur plusieurs plaquettes et photomasques.