Occasion KLA / TENCOR SP1-DLS #9267039 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-DLS est un outil de métrologie avancée pour l'inspection des masques et des plaquettes. L'équipement combine une optique de pointe et une technologie de projection de lumière structurée, avec des capacités d'inspection des plaquettes et des masques pour surveiller avec précision les surfaces de production. KLA SP1 DLS est conçu pour détecter et classer les défauts sur les plaquettes, masques et autres substrats rapidement et avec précision. Le système utilise des technologies d'imagerie, de zoom numérique et de reconnaissance de motifs pour capturer et mesurer les caractéristiques avec une précision de micro-niveau. L'unité est conçue pour inspecter une grande variété de substrats, y compris le verre, la céramique et le matériau semi-conducteur. La machine est capable de détecter et de distinguer les particules visibles, les particules invisibles et d'autres anomalies. Il est également capable d'inspecter des particules nanométriques, ce qui peut fournir des informations plus détaillées sur le caractère et la complexité d'un défaut particulier. TENCOR SP 1-DLS utilise un outil de visualisation télécentrique à 5 axes à haute sensibilité avec une technologie d'éclairage avancée pour acquérir des images sous différents angles, offrant une large couverture sur le substrat. L'actif peut être programmé pour inspecter une variété de cibles d'inspection, d'emplacements et de niveaux de mesure. KLA SP 1-DLS est capable de générer des images 3D avec plusieurs étapes d'exposition pour une analyse plus approfondie. La caméra couleur embarquée haute résolution combinée à un logiciel d'imagerie avancé et à des algorithmes d'analyse permettent au modèle de classer avec précision les défauts en fonction de leur taille, de leur forme et de leur emplacement. L'équipement utilise un système embarqué de reconnaissance des motifs et des algorithmes statistiques pour faciliter le processus de classification des défauts. SP1 DLS est supporté par un logiciel avancé d'enregistrement des données, pour l'acquisition, l'examen et l'archivage de données efficaces. En outre, SP 1-DLS est conçu pour être extensible, de sorte que des capteurs et modules supplémentaires peuvent être intégrés dans l'unité selon les besoins. Cela permet des niveaux supplémentaires d'automatisation dans le processus d'inspection. Dans l'ensemble, TENCOR SP1-DLS est une machine puissante et précise pour l'inspection des masques et des plaquettes avec des capacités d'optique et d'imagerie avancées. Les technologies d'imagerie haute résolution, de zoom numérique et de reconnaissance de motifs combinées à des algorithmes d'analyse de données avancés permettent à TENCOR SP 1 DLS de caractériser et de classer avec précision différents types de défauts. Cela fait de KLA/TENCOR SP 1 DLS un atout inestimable pour assurer une production de haute précision dans l'industrie des semi-conducteurs.