Occasion KLA / TENCOR SP1-DLS #9267041 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-DLS est un équipement d'inspection de masque et de plaquette de pointe conçu pour fournir des capacités de surveillance et de détection complètes pour les processus semi-conducteurs avancés. KLA SP1 DLS est un système modulaire à haut débit capable de traiter jusqu'à 600 wafers par heure dans une grande variété de technologies IC, y compris FinFET de pointe. Il dispose de technologies d'imagerie 2D et 3D leader de l'industrie pour des vues optiques et de microscope électronique à balayage (SEM) de surfaces de masque et de plaquettes. TENCOR SP 1-DLS peut détecter rapidement les défauts et d'autres caractéristiques, y compris la topologie de surface, la reconnaissance de motifs et les erreurs de recouvrement. Grâce à sa rapidité et à sa précision d'inspection, l'unité peut détecter rapidement et avec précision les problèmes, ce qui permet d'apporter des corrections et de réduire le besoin potentiel de travaux et de réparations coûteux. En outre, la machine dispose de technologies avancées de traitement d'image et d'algorithmes pour soutenir la classification et l'identification automatisées des défauts. KLA SP1-DLS permet des capacités d'analyse avancées, y compris l'inspection métrologique, l'inspection par masque couche par couche, la détection des erreurs de recouvrement et l'inspection des lacunes. Ses paramètres d'outils automatisés peuvent être ajustés pour garantir des paramètres optimaux pour une grande variété de types de marqueurs. Il est ainsi plus facile d'identifier des paramètres spécifiques pour l'analyse des données, ce qui permet d'optimiser la performance de l'actif. Le modèle dispose également d'une capacité de réseautage avancée, permettant aux utilisateurs d'accéder aux données hors site en temps réel. Cela garantit que l'analyse et la collecte de données peuvent avoir lieu dans une variété d'environnements, permettant des performances plus efficaces. En outre, l'équipement dispose d'une interface graphique conviviale pour la navigation rapide et intuitive des outils de collecte et d'analyse de données. SP 1 DLS offre un ensemble complet de caractéristiques qui en font un système d'inspection de masque et de plaquettes idéal pour les processus semi-conducteurs modernes. Avec ses performances fiables et précises, sa vitesse de traitement rapide, sa navigation graphique et ses outils d'analyse complets, l'unité est indispensable pour identifier et éliminer les défauts dans les processus de production de circuits intégrés les plus avancés.