Occasion KLA / TENCOR SP1-DLS #9283698 à vendre en France

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ID: 9283698
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2003
Particle measurement system, 12" Dual FOUP 2003 vintage.
KLA/TENCOR SP1-DLS est un équipement d'inspection de masque et de plaquette de pointe conçu pour des photomasques avancés, une plaquette simple et des structures d'essai par lots. Ce système est utilisé pour détecter tout défaut dans les photomasques et les plaquettes et est capable de scanner jusqu'à 12 plaquettes/masques simultanément à des vitesses élevées. KLA SP1 DLS est équipé d'un capteur laser multi-faisceau, capable de capturer plusieurs images à la fois. Ces images sont ensuite analysées pour des défauts, de tailles allant de 0,7 μ m à des défauts plus importants. L'analyse des défauts peut être effectuée manuellement ainsi qu'avec l'aide d'opérateurs qualifiés. L'unité TENCOR SP 1-DLS est équipée de fonctions d'auto-programmation et d'auto-inspection, qui facilitent et accélèrent l'inspection des plaquettes et des masques. La machine dispose également d'un programme d'examen des défauts qui permet aux utilisateurs de segmenter, minimiser, visualiser, analyser et signaler les emplacements des défauts. Cet outil peut manipuler une variété de matériaux, y compris des films organiques et inorganiques, et est capable de capturer des images de surfaces réfléchissantes faibles et élevées. KLA SP 1-DLS offre aux utilisateurs la détection avancée des défauts, le traitement des images et l'analyse des données. Il utilise la technologie en temps réel pour scanner et analyser de grandes quantités de données, et générer rapidement plusieurs images sous différents angles. Les données peuvent être exportées vers n'importe quel logiciel tiers pour une analyse plus approfondie. Le modèle dispose de paramètres personnalisables qui permettent aux utilisateurs d'ajuster la détection des défauts en fonction de leurs besoins. L'équipement TENCOR SP 1 DLS est l'un des systèmes les plus avancés pour l'inspection des masques et des plaquettes sur le marché. Ce système avancé est capable de détecter de minuscules défauts, fournit une analyse précise des données et la génération de rapports, et offre des prix abordables. Il est adapté à une variété d'applications et est conçu pour fournir une haute performance et fiabilité dans les applications d'inspection des masques et des plaquettes.
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