Occasion KLA / TENCOR SP1-TBI SURFSCAN #9227710 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-TBI SURFSCAN est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes utilisé pour identifier et détecter les défauts dans les circuits intégrés. Il est conçu pour l'inspection automatique de plusieurs étapes de traitement avant et fournit des mesures détaillées des caractéristiques du masque et de la plaquette pour assurer une amélioration continue du rendement. Le système est équipé d'un sous-système optique sensible capable de détecter et de mesurer les caractéristiques et les défauts des sous-microns sur les plaquettes et les masques. Il est disponible en configuration 4 pixels ou 16 pixels, et les deux disposent d'une technologie de haut niveau Dual-Energy White-Light-Field qui permet d'analyser les images en mode double réflecteur et transmissif à une résolution allant jusqu'à 90nm. En outre, l'unité est équipée d'une étape brevetée d'acquisition Z-Stage Vacuum-Gap qui effectue des mesures rapides et précises des caractéristiques de surface sur tous les substrats. KLA a aussi incorporé leur technologie d'Amélioration d'Image de TrueBright™ qui réduit plus loin le seuil de sensibilité et augmente le rapport de signal au bruit de défauts découverts. KLA SP1-TBI SURFSCAN permet aux utilisateurs d'analyser rapidement les informations de wafer et de masquer à l'aide de divers algorithmes. Il est capable d'identifier un large éventail de défauts, y compris les rayures, les pores, les vides, les particules, les parois de particules, la rugosité des bords de ligne, les taches de surface et les tranchées. Les algorithmes avancés de détection de défauts peuvent détecter des défauts liés au processus ou à la géométrie jusqu'à 0,14 um. La machine fournit également plusieurs fonctions de mesure automatisées et personnalisables, y compris l'analyse des dimensions critiques, la traçabilité des cartes et l'analyse des lots. En outre, TENCOR SP1-TBI SURFSCAN est programmé pour permettre aux utilisateurs d'intégrer de manière transparente leur logiciel de suivi des plaquettes existant. L'outil comprend également une gamme d'outils intégrés pour recueillir, visualiser et analyser les résultats. Il peut également être utilisé dans des environnements de production automatisés, permettant une évaluation rapide et flexible des performances et une analyse des défauts/paramètres. En bref, SP1-TBI SURFSCAN est un outil complet d'inspection des masques et plaquettes qui fournit des capacités de détection et de mesure des défauts précises et fiables. Il offre une gamme de fonctionnalités optiques et d'analyse avancées, et est conçu pour fournir une solution rapide, à haut rendement et précise pour le défaut continu et l'amélioration du rendement.