Occasion KLA / TENCOR SP1-TBI #9226564 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-TBI est un masque haute performance et un équipement d'inspection de plaquettes conçu pour répondre aux exigences exigeantes des fabricants de semi-conducteurs dans le monde entier. Avec un laser ultra-violet avancé et dédié, KLA SP1T-BI fournit des mesures rapides et précises des géométries critiques nécessaires pour assurer un contrôle avancé des processus. Le système est conçu pour fournir une surface supérieure, des paramètres critiques et des mesures de superposition, ainsi que des tailles de fonctionnalités corrélées à des nœuds de processus de haut volume. Il intègre une variété d'outils d'imagerie, de détection et de laser, offrant une combinaison avancée d'acuité de piquage et de piquage pour les diagnostics d'échec. TENCOR SP1 TBI est conçu avec le plus haut niveau de productivité en tête, avec une plate-forme de scanner de 250 mm avec une manipulation rapide et fiable des plaquettes, et une capacité de couture à haute vitesse pour une étude efficace des motifs et de l'alignement. L'unité comprend également une série robuste d'outils d'analyse et de traitement de données pour soutenir les processus automatisés de production et de contrôle de la qualité. La machine est conçue pour supporter une grande variété de tâches d'inspection et d'examen, y compris des exigences avancées de contrôle de processus pour différents types de structures. Utilisant les meilleures technologies optiques éprouvées, telles que l'imagerie par champ lumineux, champ sombre et contraste de phase, TENCOR SP 1 TBI offre une imagerie haute résolution améliorée pour identifier avec précision même les plus petits défauts. L'outil dispose également de puissantes capacités d'alignement de plaquettes pour améliorer la vitesse et la précision. Il permet de détecter et de quantifier automatiquement avec précision toute erreur de recouvrement de substrat ou tout problème de texture, et comprend une variété de fonctionnalités logicielles avancées qui prennent en charge les mesures en ligne et hors ligne. En outre, TENCOR SP1T-BI exécute un certain nombre de mesures et de solutions d'inspection avancées au niveau des plaquettes, telles que l'inspection avancée des défauts au niveau des pixels, les technologies OCR et le soutien d'une variété de technologies de balisage. Ses capacités de stabilité renforcées permettent des résultats de mesure définitifs sur une grande variété de substrats, des photomasques aux plaquettes. En outre, KLA SP1 TBI offre des capacités avancées de contrôle des processus, permettant la mesure en temps réel et la rétroaction d'alignement. Son contrôle avancé et son profilage des capacités augmentent le débit et le débit, ce qui permet d'améliorer le rendement et de réduire les déchets. Dans l'ensemble, le KLA SP 1 TBI est un outil puissant et fiable d'inspection des masques et des plaquettes qui offre des capacités supérieures d'imagerie, de détection et de laser pour des résultats précis. Avec ses fonctionnalités logicielles robustes et ses capacités avancées de contrôle des processus, KLA/TENCOR SP1 TBI est essentiel pour une variété de tâches de contrôle de la qualité et d'ingénierie. KLA/TENCOR SP 1 TBI est le choix idéal pour les fabricants de semi-conducteurs qui ont besoin de résultats fiables, rapides et précis.