Occasion KLA / TENCOR SP1-TBI #9249676 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-TBI est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour identifier les défauts des circuits intégrés au niveau d'un seul pixel. Le système intègre une technologie d'optique et d'automatisation de pointe afin d'assurer la rapidité et la précision de l'inspection des masques et des plaquettes pour détecter les contaminants. KLA SP1T-BI est conçu pour inspecter de nombreux types de matériaux et de supports tels que le silicium et l'acier inoxydable. L'unité d'imagerie avancée utilisée dans TENCOR SP1 TBI combine la capacité de zoom optique et une caméra numérique haute résolution. Cette combinaison crée une résolution d'image supérieure à 200 mégapixels. Les images haute résolution, couleur, stéréo et 3D sont capturées. Ces images sont ensuite traitées avec un CCD de 4 mégapixels pour générer des images avec un pas de 0,05 pixel. KLA SP 1-TBI est capable d'analyser les images rapidement, à l'aide d'un processeur d'image haute vitesse. Ce processeur travaille de concert avec un algorithme avancé pour donner aux utilisateurs une vue d'ensemble de la géométrie particulière de la plaquette ou du masque inspecté, leur permettant de déterminer les défauts éventuels qui existent dans le matériau. Ce processeur permet également de comparer automatiquement les images tout en filtrant les données indésirables ou les faux positifs. KLA/TENCOR SP 1-TBI est également équipé d'un logiciel de vision avancée qui lui permet d'identifier les bords, les pixels individuels ou d'autres caractéristiques physiques. Ce logiciel peut être programmé pour identifier des défauts aussi petits que 0,1 micromètre, permettant à l'utilisateur de détecter et d'inspecter les défauts individuels et mineurs qui pourraient être manqués à l'œil nu. En outre, SP 1-TBI a d'autres fonctionnalités qui s'avèrent bénéfiques pour les utilisateurs tels que le positionnement automatique des plaquettes, les fonctions de cartographie automatisée, et une suite d'analyses pour détecter les défauts dans les plaquettes. Une fonction de viseur unique et innovante permet aux utilisateurs de revoir les images en temps réel, sans avoir à attendre le traitement des données. KLA SP1 TBI est un outil essentiel dans le développement de circuits miniatures très délicats. Il est souvent utilisé dans l'industrie des semi-conducteurs, fournissant une inspection détaillée à des fins de contrôle de la qualité. Grâce à la combinaison de la technologie optique et du traitement avancé des images, KLA/TENCOR SP1 TBI est en mesure de fournir des résultats extrêmement précis. Avec ses performances robustes, cette machine est une solution idéale pour trouver et inspecter même les plus petits défauts dans une variété de matériaux.