Occasion KLA / TENCOR SP1-TBI #9262812 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-TBI est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour l'inspection de dispositifs semi-conducteurs avancés. Le système a une capacité de débit élevée et est capable d'inspecter des plaquettes jusqu'à 200 mm de diamètre et jusqu'à 200 mm d'épaisseur. KLA SP1T-BI dispose également d'une unité optique avancée pour la détection des défauts sur les masques et les plaquettes. La machine dispose d'un outil d'imagerie confocale laser, qui se compose d'un illuminateur laser, d'un objectif et d'une caméra. L'illuminateur laser fournit une image haute résolution de la plaquette et du masque. L'objectif focalise la lumière laser sur la plaquette et le masque, tandis que la caméra capture l'image. TENCOR SP1 TBI actif dispose d'une suite complète de mesures pour mesurer et analyser les paramètres de défaut sur les masques et les plaquettes. Ces paramètres comprennent la taille, la forme, la position, la luminosité et le contraste. SP 1-TBI peut également détecter et mesurer rapidement les défauts sur les parois latérales du masque, ce qui peut être utilisé pour réduire le potentiel de défauts de fabrication en aval. Le modèle est équipé d'un algorithme automatisé de reconnaissance des motifs, qui peut rapidement analyser et identifier les défauts sur le masque et la plaquette. Pour des performances d'inspection optimales, TENCOR SP1-TBI offre plusieurs options de traitement d'image. L'équipement dispose d'un processeur d'imagerie, qui peut améliorer les performances d'imagerie du système en ajoutant le filtrage, la réduction du bruit, et d'autres capacités d'amélioration de l'image. En outre, SP1-TBI dispose d'algorithmes intégrés pour la détection automatisée, la classification et la caractérisation des défauts sur les masques et les plaquettes. L'unité supporte également la segmentation automatisée de l'image, qui permet aux utilisateurs de segmenter l'image défectueuse en plusieurs régions pour une analyse plus approfondie. La machine KLA SP1 TBI offre plusieurs outils pour le fonctionnement automatisé et l'analyse des données. L'outil a la capacité de stocker et de manipuler les données d'inspection, ainsi que les résultats d'affichage dans différents formats. De plus, KLA SP 1-TBI dispose d'outils tels qu'un utilitaire automatisé d'identification de région de défaut et un utilitaire de compteur de particules. Ces outils peuvent être utilisés pour identifier rapidement les défauts sur le masque et la plaquette et convertir automatiquement les régions de défaut en données numériques pour une analyse plus poussée. Les capacités d'imagerie et d'inspection avancées de SP1T-BI, associées à ses outils automatisés de caractérisation et d'analyse des défauts, en font un outil d'inspection essentiel pour l'inspection des dispositifs semi-conducteurs avancés. Avec son débit impressionnant, sa haute résolution et sa gamme complète de mesures, SP1 TBI fournit aux utilisateurs les outils dont ils ont besoin pour analyser leurs masques et plaquettes pour détecter les défauts potentiels.