Occasion KLA / TENCOR SP1-TBI #9290815 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1-TBI est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes utilisé pour l'inspection optique et électrique des plaquettes à semi-conducteurs. Le système utilise une combinaison d'imagerie de wafer haute résolution, d'analyse d'image spectrale et de capacité d'essai électrique dédiée pour s'assurer que toutes les wafers sont conformes aux normes les plus élevées et répondent à toutes les exigences du fabricant. Les inspections effectuées par l'unité KLA SP1T-BI sont une combinaison de méthodes optiques et électriques. L'inspection optique consiste en une machine d'imagerie de plaquettes à haute résolution qui apprend et stocke une gamme de mises en page de puces et peut identifier toute déviation dans les caractéristiques ou les structures dans les mises en page de puces. L'outil utilise ensuite l'analyse d'images spectrales pour comparer et mesurer les différences entre les différents éléments de mise en page. Cela permet à l'actif de détecter les anomalies dans les tailles, les formes, les orientations et le niveau de détail des fonctionnalités, ainsi que les défauts qui peuvent survenir en raison de défauts de processus ou de non-conformités. Le modèle TBI TENCOR SP1 dispose également d'une capacité d'inspection électrique spécifique. Cette section de l'équipement comprend un module d'essai électrique à grande vitesse qui est capable de tester et de vérifier les caractéristiques électriques des appareils inspectés. En mesurant des paramètres du dispositif tels que la tension de seuil, le courant de fuite, la marge de bruit et les caractéristiques de commutation, KLA/TENCOR SP1T-BI est capable de garantir les performances électriques des plaquettes semi-conductrices évaluées. Le système KLA SP1-TBI est capable de manipuler tous les types de plaquettes et les formats avancés de plaquettes, y compris le silicium, l'arséniure de gallium et les technologies SOI. L'unité est également capable de manipuler diverses technologies au-delà de CMOS, telles que MEMS, solaire, BiCMOS, et technologies d'énergie. La machine est capable de produire des images d'inspection 2D et 3D des caractéristiques et des structures des plaquettes, et est en mesure de fournir des commentaires sur la conformité des caractéristiques et des structures aux exigences du client. L'outil TBI TENCOR SP 1 est une solution complète et multifonctionnelle d'inspection des plaquettes qui peut fournir une analyse détaillée de la disposition des plaquettes et de leurs paramètres électriques associés, garantissant que les plaquettes sont conformes aux normes les plus élevées. En combinant des modules de test électriques dédiés, l'analyse d'images spectrales et l'imagerie de plaquettes haute résolution, KLA/TENCOR SP 1 TBI permet aux fabricants de produire des produits semi-conducteurs de la plus haute qualité rapidement et de manière fiable à chaque fois.