Occasion KLA / TENCOR SP1 #9024561 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour assurer une inspection rapide et fiable des substrats pour le contrôle de la production des dispositifs semi-conducteurs. Ce système automatisé offre des capacités d'inspection visuelle précises avec une caméra haute résolution et des algorithmes avancés. Les capacités d'inspection à haute résolution de l'unité permettent de détecter des défauts et des contaminations extrêmement faibles, tandis que les algorithmes avancés permettent de détecter des écarts de motifs subtils et des erreurs de bord. La machine SP1 de KLA se compose de trois composants principaux. La première composante est l'optique, qui est conçue pour fournir une qualité d'imagerie supérieure pour le processus d'inspection. La conception optique intègre une lentille télécentrique haute résolution avec une grande ouverture et un rétroéclairage LED. La deuxième composante est l'architecture matérielle et logicielle de l'outil. Cet atout est conçu pour une performance maximale et une facilité d'utilisation, avec une multitude d'options et de paramètres configurables. Le modèle dispose d'un logiciel convivial avec des contrôles intuitifs pour l'inspection automatisée et les opérations manuelles, ainsi qu'une option d'acquisition d'images 5x à grande vitesse. La troisième composante principale de TENCOR SP1 est ses algorithmes d'analyse d'image. Ces algorithmes sont conçus pour détecter et analyser différents types de défauts ou de contamination sur des substrats. L'équipement utilise une variété de méthodes différentes, comme le codage de fréquence, la cartographie comparative et l'analyse des ondelettes, pour la détection et la classification précises des contaminants et des défauts. SP1 intègre également un algorithme de classification basé sur les fonctionnalités pour identifier la taille, la forme et l'orientation des défauts. Le système KLA/TENCOR SP 1 est capable d'effectuer simultanément une inspection visuelle et une analyse des défauts des substrats. Cette unité est capable de détecter et de mesurer une variété de contaminations de particules, de largeurs de lignes et de mesures d'espacement. La machine dispose également d'une bibliothèque complète de types de défauts et de classifications, qui peuvent être personnalisés pour n'importe quelle application spécifique. L'outil KLA SP 1 est idéal pour l'inspection manuelle et automatisée des substrats sur les lignes de production. Son logiciel convivial, ses algorithmes avancés et son optique haute résolution offrent flexibilité et fiabilité pour un large éventail d'applications d'inspection. En combinant de puissants algorithmes d'analyse d'image et une interface utilisateur polyvalente, TENCOR SP1 offre une solution optimale pour une inspection efficace et fiable des substrats.