Occasion KLA / TENCOR SP1 #9097785 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1 Mask and Wafer Inspection Equipment est un système d'inspection automatisé très précis et fiable pour les applications de masques et de plaquettes. Il est utilisé dans toute l'industrie des semi-conducteurs pour garantir la qualité et la précision des caractéristiques optiques, réticulaires et des plaquettes. KLA SP1 utilise des technologies de détection laser-optique avancées pour détecter et identifier les dimensions critiques, les bords, les fiduciaires, et d'autres caractéristiques. Afin d'assurer la précision et la répétabilité, il intègre également des algorithmes spécialisés de détection de défauts pour détecter des anomalies dans les fonctionnalités demandées. En outre, il a la capacité de détecter des anomalies de patrons, ponts, contamination dopante, variances de largeur de ligne et plusieurs autres paramètres. TENCOR SP 1 offre aux utilisateurs une haute résolution et des résultats précis, avec des capacités de comparaison jusqu'à 1/25, 000e d'un millimètre. Sa précision d'unité est jusqu'à 3 µm (0,003mm). Pour garantir cette précision, il intègre plusieurs composants d'inspection, tels que Auto Focus, Digital Zoom et Global Illumination ; d'autres fonctionnalités telles que l'égaliseur de sensibilité, permettent aux utilisateurs de fixer les bons seuils et la sensibilité pour des inspections optimales. Avec une interface graphique expérimentée et conviviale, il rend le fonctionnement simple pour les utilisateurs, qui peuvent comparer plusieurs plaquettes ou masquer des images côte à côte pour une confirmation visuelle facile. En outre, un analyseur statistique intégré évalue les résultats de chaque inspection, ce qui donne aux utilisateurs une plus grande confiance dans leurs résultats. KLA SP 1 est également livré avec des capacités de génération de rapports et d'exportation ainsi que des options de mise en réseau machine-outil et de réseautage, ce qui le rend facile à intégrer dans un environnement de production. Il est également conçu pour se conformer aux normes mondiales de sécurité, de sécurité des données et d'EDD, ce qui donne la tranquillité d'esprit aux utilisateurs. Dans l'ensemble, SP 1 Masque et Wafer Inspection Asset est un outil d'inspection avancé et fiable pour l'industrie des semi-conducteurs, offrant une inspection de haute précision pour assurer la qualité et la précision non seulement des plaquettes et des masques, mais aussi d'autres composants critiques.