Occasion KLA / TENCOR SP1 #9293262 à vendre en France

KLA/TENCOR SP1 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes utilisé pour détecter des défauts de surface, tels que des particules, des rayures ou des trous de pinceau, sur des plaquettes ou des photomasques. Le système est conçu avec une combinaison de capacités de métrologie en ligne, d'inspection et d'examen post-inspection. Il recouvre une illumination de champ lumineux avec l'illumination de champ sombre, offrant un contraste amélioré et la détection des défauts à une variété d'angles pour produire la plus grande sensibilité. L'unité utilise un balayage laser double côté, double faisceau et plusieurs sources lumineuses LED de longueur d'onde pour assurer l'uniformité dimensionnelle complète et l'inspectabilité. Il est équipé d'une machine avancée de traitement d'inspection/métrologie (PIM) qui permet aux utilisateurs d'appliquer divers modules de mesure et d'inspection à leurs exigences spécifiques de processus. Le brevet en instance 5x Laser-State Scanner utilise une technique ophtalmique double balayage simple pour obtenir une mesure à grande vitesse et la précision des données. Pour plus de précision, KLA SP1 utilise un outil automatisé d'imagerie plein champ ainsi que plusieurs algorithmes avancés pour la détection et l'analyse des défauts. Il comprend le traitement avancé des images et l'application d'algorithmes de traitement d'images 3D pour améliorer les capacités de détection des défauts. En outre, l'actif intègre des outils logiciels avancés pour fournir une valeur supplémentaire, comme la localisation précise, le dimensionnement et la classification des défauts. Le très résistant TENCOR SP 1 dispose de chambres environnementales pour le contrôle des températures extrêmes, du gaz et de l'humidité. Il est également conçu avec un couteau à air haute amplitude monté sur piste, qui élimine les particules ultra-fines avant l'examen. Le modèle est très efficace, offrant commodité et analyse rapide grâce à l'examen automatisé des défauts. Le module APC 32 charges et les options de circuit focalisé permettent une haute productivité et une analyse de défaut sur une seule plaquette. Globalement, SP1 est un équipement d'inspection de masque et de plaquettes de pointe conçu pour répondre aux exigences difficiles de la fabrication de semi-conducteurs. Le système offre une précision et un contrôle de qualité élevés, en raison de ses fonctions de traitement avancées, de ses capacités d'imagerie et de ses capacités d'examen post-inspection. C'est un outil inestimable dans l'industrie des semi-conducteurs pour garantir une qualité optimale des produits et des procédés.