Occasion KLA / TENCOR SP2 #9138110 à vendre en France

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ID: 9138110
Taille de la plaquette: 12"
Style Vintage: 2012
Surface inspection system,12" Dual FIM /FOUP Vacuum puck handling Wafer measurement module Optimized sensitivity Throughput < 37 nm defect sensitivity on polished bare silicon Enables qualification of current Next Generation Substrates SOI, Strained SOI Strained Si UV Laser illumination Defect map Histogram with zoom IMicroview measurement capability Real-time defect classification (RTDC) Can be upgraded to SP2 XP at additional cost Microsoft XP operating system Blower box 2012 vintage.
KLA/TENCOR SP2 est un équipement avancé d'inspection des masques et des plaquettes spécialement conçu pour évaluer la qualité des masques et des plaquettes. Ce système de pointe utilise une combinaison d'imagerie optique exclusive, de détection de défauts et d'analyse avancée pour garantir une inspection complète et précise. KLA SP-2 est capable d'effectuer toute une gamme de tâches automatisées, telles que l'évaluation d'images en ligne fine, la détection de défauts, et de tirer parti du grand nombre de capteurs qui sont intégrés dans toutes les techniques de lithographie de pointe. Il est capable d'analyser l'épaisseur des couches de film, d'identifier les dimensions critiques des caractéristiques du dispositif et d'effectuer d'autres fonctions de métrologie critique. De plus, l'unité est en mesure de surveiller l'uniformité des résultats des processus et d'évaluer la qualité des pièces avec des surfaces optiquement lisses. TENCOR SP 2 dispose de fonctionnalités avancées de reconnaissance de motifs, offrant aux utilisateurs un moyen efficace et efficient d'identifier les défauts sensibles. La qualité insuffisante des pièces peut être identifiée, la machine pouvant détecter des contaminants, des défauts et d'autres irrégularités matérielles qui peuvent conduire à une réduction des composants utilisables produits. L'outil KLA/TENCOR SP 2 est capable de fournir une collecte de données approfondie, fournissant une image en temps réel du processus en action. De plus, l'actif est capable de faciliter l'analyse de l'évolutivité des défauts, ce qui permet d'évaluer les tendances des procédés afin de permettre l'amélioration des taux de rendement. Toutes les données collectées sont stockées et peuvent être facilement récupérées, ce qui permet aux utilisateurs de prendre des décisions efficaces et précises. SP-2 est largement considéré comme un masque innovant et un modèle d'inspection des plaquettes. Utilisant l'imagerie optique exclusive et la détection avancée des défauts, il est capable de fournir aux utilisateurs un aperçu précis et complet des résultats des processus. C'est un outil inestimable qui peut faciliter l'amélioration de l'efficacité de la production et des rendements.
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