Occasion KLA / TENCOR SP2 #9199155 à vendre en France

KLA/TENCOR SP2 est un équipement d'inspection de masques et de plaquettes conçu pour fournir des mesures de surface à micro-échelle extrêmement précises et des capacités de détection de défauts. Grâce à la technologie avancée de balayage et d'imagerie, le système est en mesure de résoudre même les plus petites caractéristiques de surface et les défauts avec précision. KLA SP-2 utilise une caméra CCD haute performance fonctionnant dans la gamme visible de 400-950 nanomètres. Un objectif haute résolution est utilisé pour capturer les images, qui sont ensuite traitées par de puissants algorithmes de traitement d'images. Ces algorithmes détectent des caractéristiques inconnues, telles que des « particules étrangères », des dislocations, des rayures et d'autres défauts de surface. Les images sont ensuite stockées pour une analyse plus poussée. L'unité met l'accent sur la vitesse et la précision lors de la numérisation et de la mesure des échantillons. Il a une vitesse de balayage allant jusqu'à 5 millions de pixels par seconde, ce qui se traduit par une vitesse de balayage maximale de 200 wafers par heure. Une variété de mandrins à axes multiples peut être utilisée pour supporter de grands échantillons, et une interface PCI/SCSI permet le contrôle et le traitement à distance des échantillons. La machine peut également être mise à niveau avec des lentilles avancées et des options logicielles supplémentaires pour une plus grande polyvalence. Par exemple, l'option de balayage planaire multi-points permet à TENCOR SP 2 d'inspecter rapidement de grandes surfaces à la fois. En outre, des fonctions dynamiques étendues permettent des mesures de haute précision et l'utilisation de logiciels spécialisés, tels que la capacité de superposition multi-zones, permettent une détection des défauts très précise. KLA/TENCOR SP-2 est un outil avancé d'inspection des masques et plaquettes qui peut traiter un grand nombre d'échantillons rapidement et avec précision. Avec ses capacités d'imagerie haute résolution et ses multiples options logicielles, SP-2 assure une détection précise des défauts et des mesures très précises. Cet atout est un choix idéal pour une inspection de qualité de haut niveau dans la production de semi-conducteurs.