Occasion KLA / TENCOR SP3 #293648486 à vendre en France

KLA/TENCOR SP3 Masque & Wafer Inspection Equipment est un équipement d'imagerie et d'analyse de pointe conçu pour détecter et identifier les défauts des masques et des plaquettes à semi-conducteurs. KLA SP-3 est équipée d'une optique de pointe, d'un traitement avancé des images et d'un logiciel de mesure sophistiqué pour s'assurer que toutes les fonctions sont soigneusement inspectées et mesurées. TENCOR SP 3 utilise la technologie propriétaire « éclairage 3D » pour développer des images à haute résolution qui sont ensuite utilisées pour l'inspection et la mesure précises des défauts. Le système est capable d'obtenir des images claires des formes les plus complexes, y compris celles avec des lignes étroites et des espaces étroitement couplés. Les optiques avancées utilisées ont un champ de vision de 52 μ m et peuvent détecter des tailles de fonctionnalités aussi petites que 4 μ m. Les aspects d'éclairage de l'unité comprennent une large gamme de spectres d'éclairage LED et un ciblage de haute précision de la zone de vue, ce qui permet une inspection détaillée des caractéristiques telles que la largeur de ligne, la dimension et la position. TENCOR SP-3 dispose d'un logiciel de mesure automatisé sophistiqué capable de mesurer localement et globalement les défauts. La machine utilise une combinaison d'algorithmes et de mesures définies par l'utilisateur pour prédire et détecter les types de défauts, tels que la largeur de ligne, la dimension et les violations de position (LWDP), les erreurs de dimension critique (CD) et les erreurs de conductivité. Il est également configuré spécifiquement pour répondre à des défis de conception de circuits tels que la capacité, la fuite et la capture d'oxyde. L'outil KLA/TENCOR SP-3 est extrêmement convivial et facile à utiliser. Il fournit une interface complète et intuitive qui le rend facile à conduire, inspecter, mesurer et analyser les défauts et les fonctionnalités. L'atout est également équipé d'une approche globale basée sur la connaissance qui permet à l'utilisateur de rechercher l'information rapidement et facilement. SP-3 fournit un outil tout-en-un pour augmenter le débit et la productivité, tout en permettant aux ingénieurs de détecter et de mesurer rapidement et avec précision les défauts afin d'améliorer la qualité et l'efficacité de la fabrication des semi-conducteurs. Le modèle est également soutenu par une équipe d'ingénieurs de soutien à la clientèle de pointe de l'industrie qui sont disponibles pour discuter de tous les problèmes ou questions liés à l'équipement et à ses caractéristiques.